Simultaneous Observation of Diffusion‐Induced Dislocation Slip Patterns in Si With Electron Beam Scanning and Optical Means

 

作者: W. Czaja,   G. H. Wheatley,  

 

期刊: Journal of Applied Physics  （AIP Available online 1964）
卷期: Volume 35, issue 9  

页码: 2782-2783

 

ISSN:0021-8979

 

年代: 1964

 

DOI:10.1063/1.1713843

 

出版商: AIP

 

数据来源: AIP

 

 

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