L'auteur présente une étude détaillée de l'astigmatisme et de la distorsion des systèmes réfléchissants asymétriques, en vue de l'amélioration des résultats obtenus avec le microscope X à réflexion totale. Il indique les diverses possibilités de correction. Der Verfasser beschfätigt sich eingehend mit dem Astigmatismus und der Verzeichnung bei asymmetrischen Spiegelsystemen, im Hinblick auf die Verbesserung eines Röntgenstrahlmikroskopes unter Benutzung der Totalreflexion. Es ergeben sich dabei verschiedene Möglichkeiten einer Korrektion dieser Fehler. The author presents a detailed study of astigmatism and distortion of asymetrical reflecting systems, with special reference to the possibility of improving the results obtained with the total reflection X Rays Microscope. Various possibilities of correction are mentioned.