Summary Abstract: Electrical and compositional properties of grain boundaries in multigrained silicon using surface analysis techniques

 

作者: L. L. Kazmerski,   P. J. Ireland,   T. F. Ciszek,  

 

期刊: Journal of Vacuum Science and Technology  （AIP Available online 1980）
卷期: Volume 17, issue 1  

页码: 34-35

 

ISSN:0022-5355

 

年代: 1980

 

DOI:10.1116/1.570384

 

出版商: American Vacuum Society

 

数据来源: AIP

 

 

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