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Anwendung von Halbleiterdetektoren in der energiedispersiven Röntgenanalytik

 

作者: M. Schickel,  

 

期刊: Isotopenpraxis Isotopes in Environmental and Health Studies  （Taylor Available online 1983）
卷期: Volume 19, issue 1-2  

页码: 28-33

 

ISSN:0021-1915

 

年代: 1983

 

DOI:10.1080/10256018308544828

 

出版商: Taylor & Francis Group

 

关键词: Li-drifted detectors Si;microanalysis;nondestructive analysis;Si semiconductor detectors;trace amounts;X-ray diffraction;X-ray fluorescence analysis

 

数据来源: Taylor

 

摘要:

Die rasche Entwicklung von hochauflösenden Halbleiterdetektoren für Photonenstrahlung hat im letzten Jahrzehnt zu einer verstärkten Anwendung energiedispersiver Spektrometer in der Technik geführt. Besonderen Aufschwung hat dabei die Analyse mittels Röntgenstrahlung erfahren. Gegenwärtig zeichnen sich in der Röntgenanalytik drei Hauptanwendungsgebiete für Halbleiterdetektoren ab:

 

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