A review of: “Field ion microscopy, principles and applications” Erwin W. Miiller and Tien Tzou Tsong. American Elsevier Publishing Company Inc., New York, 1969,314 pages. $24

 

作者: K.M. Bowkett,  

 

期刊: Radiation Effects  （Taylor Available online 1970）
卷期: Volume 3, issue 2  

页码: 287-287

 

ISSN:0033-7579

 

年代: 1970

 

DOI:10.1080/00337577008236292

 

出版商: Taylor & Francis Group

 

数据来源: Taylor

 

 

点击下载:  PDF (93KB)

返 回