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Testing time for ASICs

 

作者: ColinSutlieff,  

 

期刊: IEE Review  （IET Available online 1991）
卷期: Volume 37, issue 1  

页码: 27-31

 

ISSN:0953-5683

 

年代: 1991

 

DOI:10.1049/ir:19910010

 

出版商: IEE

 

数据来源: IET

 

摘要:

Testing a complex ASIC can be a major problem. Specialist software tools and hardware-design styles are cutting the problem down to size

 

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