The Effect of Electron Multiplier Afterpulses on Atom‐Probe FIM Identification of Metal‐Compound Ions

 

作者: Erwin W. Mu¨ller,   S. V. Krishnaswamy,   S. Brooks McLane,  

 

期刊: Review of Scientific Instruments  （AIP Available online 1973）
卷期: Volume 44, issue 1  

页码: 84-86

 

ISSN:0034-6748

 

年代: 1973

 

DOI:10.1063/1.1685970

 

出版商: AIP

 

数据来源: AIP

 

 

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