A1K X‐Ray Emission Fine Features for Characterizing Al&sngbnd;Cu Films

 

作者: William L. Baun,  

 

期刊: Journal of Applied Physics  （AIP Available online 1969）
卷期: Volume 40, issue 10  

页码: 4210-4212

 

ISSN:0021-8979

 

年代: 1969

 

DOI:10.1063/1.1657172

 

出版商: AIP

 

数据来源: AIP

 

 

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