Discrepancies in the Number of Stacking Faults Revealed by Various Methods in Epitaxial Silicon

 

作者: G. Dionne,  

 

期刊: Journal of Applied Physics  （AIP Available online 1967）
卷期: Volume 38, issue 8  

页码: 3417-3418

 

ISSN:0021-8979

 

年代: 1967

 

DOI:10.1063/1.1710137

 

出版商: AIP

 

数据来源: AIP

 

 

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