An optico‐electrical particle size classifier*

 

作者: David Schwartz,   Hans Elias,  

 

期刊: Journal of Microscopy  （WILEY Available online 1970）
卷期: Volume 91, issue 1  

页码: 57-59

 

ISSN:0022-2720

 

年代: 1970

 

DOI:10.1111/j.1365-2818.1970.tb02204.x

 

出版商: Blackwell Publishing Ltd

 

数据来源: WILEY

 

 

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