X‐Ray Microscopy and X‐Ray Microanalysis

 

作者: A. Engstro¨m,   V. Cosslett,   H. Pattee,   Joseph G. Hoffman,  

 

期刊: Physics Today  （AIP Available online 1962）
卷期: Volume 15, issue 8  

页码: 54-56

 

ISSN:0031-9228

 

年代: 1962

 

DOI:10.1063/1.3058328

 

出版商: AIP

 

数据来源: AIP

 

 

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