Enhanced X‐Ray Photoelectric Yields from Metal‐Insulator Layers

 

作者: John E. Jacobs,   Michael G. Kovac,  

 

期刊: Journal of Applied Physics  （AIP Available online 1970）
卷期: Volume 41, issue 2  

页码: 815-816

 

ISSN:0021-8979

 

年代: 1970

 

DOI:10.1063/1.1658760

 

出版商: AIP

 

数据来源: AIP

 

 

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