Erratum: Thickness effect of amorphous Si film on formation of 7×7 superlattice surface during its solid phase epitaxial growth [Appl. Phys. Lett.55, 2078 (1989)]

 

作者: Yukichi Shigeta,   Kunisuke Maki,  

 

期刊: Applied Physics Letters  （AIP Available online 1990）
卷期: Volume 56, issue 3  

页码: 301-301

 

ISSN:0003-6951

 

年代: 1990

 

DOI:10.1063/1.103339

 

出版商: AIP

 

数据来源: AIP

 

 

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