Response to “Comment on ‘Imaging the local electrical properties of metal surfaces by atomic force microscopy with conducting probes’ ” [Appl. Phys. Lett.70, 3618 (1996)]

 

作者: F. Houze´,   R. Meyer,   O. Schneegans,   L. Boyer,  

 

期刊: Applied Physics Letters  （AIP Available online 1997）
卷期: Volume 70, issue 26  

页码: 3619-3619

 

ISSN:0003-6951

 

年代: 1997

 

DOI:10.1063/1.119257

 

出版商: AIP

 

数据来源: AIP

 

 

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