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Etudes microlithographiques de résines négatives renfermant des unités tétrathiafulvalènes sensibles aux électrons

 

作者: Louis Giral,   Claude Montginoul,   Aumduth Mungroo,   René Sagnes,   François Schué,   Jean‐Charles Guibert,  

 

期刊: Die Angewandte Makromolekulare Chemie  (WILEY Available online 1993)
卷期: Volume 204, issue 1  

页码: 1-17

 

ISSN:0003-3146

 

年代: 1993

 

DOI:10.1002/apmc.1993.052040101

 

出版商: Hüthig&Wepf Verlag

 

数据来源: WILEY

 

摘要:

AbstractPour résoudre le phénomène de gonflement qui limite la résolution des résines micro lithographiques classiques, nous nous sommes intéressés à de nouvelles résines avec lesquelles ce phénomène n'apparaǐt pas. Nous avons retenu pour notre étude les résines R qui renferment en mélange un polymère porteur de radicaux tétrathiafulvalénylcarbonyloxyméthyles et le dibromotétrachloroéthane. Afin de voir l'influence de la nature du radical porteur de l'unité tetrathiafulvalène dans le polymère sur les propriétés microlithographiques des résines R, nous nous sommes également intéressés aux polymères renfermant des radicaux tétrathiafulvalénoxyméthyles. Les résines R ont été testées sous irradiation électronique. Leurs sensibilités dépendent en outre de la valeur de la masse molaire du polymère. Des résolutions comprises entre 0,1 et 0,4 μm ont été obtenues. Ce type de résines possèdent un certain nomber de propriétés intéressantes telles que

 

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