MIL-STD-781B Reliability Tests: Exponential Distribution

 

作者: NeathammerRobert D.,   PabstWilliam R.,   WiggintonCarl G.,  

 

期刊: Journal of Quality Technology  （Taylor Available online 1975）
卷期: Volume 7, issue sup1  

页码: 91-100

 

ISSN:0022-4065

 

年代: 1975

 

DOI:10.1080/00224065.1975.12002461

 

出版商: Taylor&Francis

 

关键词: Exponential Distribution;MIL-STD-781B;Reliability Acceptance Testing

 

数据来源: Taylor

 

 

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