MICROSCOPY OF INTERNAL CRYSTAL IMPERFECTIONS IN Sip‐nJUNCTION DIODES BY USE OF ELECTRON BEAMS

 

作者: J. J. Lander,   H. Schreiber,   T. M. Buck,   J. R. Mathews,  

 

期刊: Applied Physics Letters  （AIP Available online 1963）
卷期: Volume 3, issue 11  

页码: 206-207

 

ISSN:0003-6951

 

年代: 1963

 

DOI:10.1063/1.1753850

 

出版商: AIP

 

数据来源: AIP

 

 

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