首页   按字顺浏览 期刊浏览 卷期浏览 High Resolution Electron Microscopy of the High‐Tcsuperconductor Bi2+xSr2Ca1−xCu2O8+δ
High Resolution Electron Microscopy of the High‐Tcsuperconductor Bi2+xSr2Ca1−xCu2O8+δ

 

作者: W. Zhou,   A. I. Kirkland,   K. D. Mackay,   A. R. Armstrong,   M. R. Harrison,   D. A. Jefferson,   W. Y. Liang,   P. P. Edwards,  

 

期刊: Angewandte Chemie  (WILEY Available online 1989)
卷期: Volume 101, issue 6  

页码: 830-833

 

ISSN:0044-8249

 

年代: 1989

 

DOI:10.1002/ange.19891010653

 

出版商: WILEY‐VCH Verlag GmbH

 

数据来源: WILEY

 

 

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