Erratum: “Hole transport investigation in unstrained and strained SiGe” [J. Vac. Sci. Technol. B16, 1667 (1998)]

 

作者: F. M. Bufler,   P. Graf,   B. Meinerzhagen,   G. Fischer,   H. Kibbel,  

 

期刊: Journal of Vacuum Science&Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena  （AIP Available online 1998）
卷期: Volume 16, issue 5  

页码: 2906-2906

 

ISSN:1071-1023

 

年代: 1998

 

DOI:10.1116/1.590293

 

出版商: American Vacuum Society

 

数据来源: AIP

 

 

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