首页   按字顺浏览 期刊浏览 卷期浏览 New probe of thin‐film microstructure
New probe of thin‐film microstructure

 

作者: Victor Mizrahi,   F. Suits,   J. E. Sipe,   U. J. Gibson,   G. I. Stegeman,  

 

期刊: Applied Physics Letters  （AIP Available online 1987）
卷期: Volume 51, issue 6  

页码: 427-429

 

ISSN:0003-6951

 

年代: 1987

 

DOI:10.1063/1.98411

 

出版商: AIP

 

数据来源: AIP

 

摘要:

We demonstrate that second harmonic generation is a sensitive probe of thin‐film deposition conditions.

 

点击下载:  PDF (289KB)



返 回