作者: U. von Wimmersperg,
期刊: AIP Conference Proceedings (AIP Available online 1990) 卷期: Volume 210, issue 1
页码: 534-538
ISSN:0094-243X
年代: 1990
DOI:10.1063/1.39628
出版商: AIP
数据来源: AIP
摘要:
A technique is described which utilizes the electrons stripped off fast neutral atoms and negative ions to monitor beam profiles with sub‐micron position accuracy and with 1500 GHz bandwidth.
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