Anwendung der Neutronenaktivierungsanalyse zur Untersuchung von Konzentrationaprofilen in Silizium
作者:
W. Heinze,
S. Niese,
期刊:
Isotopenpraxis Isotopes in Environmental and Health Studies
(Taylor Available online 1972)
卷期:
Volume 8,
issue 2
页码: 41-47
ISSN:0021-1915
年代: 1972
DOI:10.1080/10256017208623015
出版商: Taylor & Francis Group
关键词: activation analysis;concentration profiles;gallium;neutorns;phosphorus;semiconductors;silicon
数据来源: Taylor
摘要:
Die Aktivierungsanalyse wurde erfolgreich zur Ermittlung von Konzentrationsprofilen von Dotierungselementen in Silizium angewandt. Im Gegensatz zu Leitfähigkeitsmessungen erhält man Informationen über die Konzentration der einzelnen Elemente unabhängig von ihrer Wertigkeit. Bei Diffusionsversuchen mit Phosphor und Gallium in Silizium wurde festgestellt, daβ der Diffusionskoeffizient mit wachsender Konzentration der Dotierungselemente bzw. mit wachsender Konzentration der gleichartig geladenen Vordotierungselemente gröβer wird.
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