Electromagnetic Exposure System for Siemens Electron Microscope

 

作者: G. F. Bahr,   O. Sackerlotzky,   E. Zeitler,  

 

期刊: Review of Scientific Instruments  （AIP Available online 1963）
卷期: Volume 34, issue 12  

页码: 1443-1444

 

ISSN:0034-6748

 

年代: 1963

 

DOI:10.1063/1.1718270

 

出版商: AIP

 

数据来源: AIP

 

 

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