X‐ray diffraction profiles described by refined analytical functions

 

作者: S. Rao,   C. R. Houska,  

 

期刊: Acta Crystallographica Section A  （WILEY Available online 1986）
卷期: Volume 42, issue 1  

页码: 14-19

 

ISSN:0567-7394

 

年代: 1986

 

DOI:10.1107/S010876738609997X

 

出版商: International Union of Crystallography

 

数据来源: WILEY

 

 

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