Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analyses

 

作者: WilliamQ. Meeker,  

 

期刊: Technometrics  （Taylor Available online 1991）
卷期: Volume 33, issue 2  

页码: 236-238

 

ISSN:0040-1706

 

年代: 1991

 

DOI:10.1080/00401706.1991.10484811

 

出版商: Taylor & Francis Group

 

数据来源: Taylor

 

 

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