Effect of Stress on Electron Relaxation Times inn‐Type Silicon

 

作者: C. D. Loggins,   M. A. Littlejohn,  

 

期刊: Journal of Applied Physics  （AIP Available online 1971）
卷期: Volume 42, issue 2  

页码: 865-867

 

ISSN:0021-8979

 

年代: 1971

 

DOI:10.1063/1.1660107

 

出版商: AIP

 

数据来源: AIP

 

 

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