Eindimensionales Schlierenverfahren Für Hohe Messgenauigkeit Mit Minimumstrahlkennzeichnung
作者:
Eckhard Küpper,
Hans Wolter,
期刊:
Optica Acta: International Journal of Optics
(Taylor Available online 1969)
卷期:
Volume 16,
issue 3
页码: 327-336
ISSN:0030-3909
年代: 1969
DOI:10.1080/713818182
出版商: Taylor & Francis Group
数据来源: Taylor
摘要:
Die Minimumstrahlkennzeichnung wird auf das von Dersch und Wolter durchgeführte Schlierenverfahren angewandt. Statt der dort benutzten quadratischen Minima eines Spaltbeugungsbildes wird ein System linearer Minima zur Kennzeichnung des Lichtweges verwendet, das von einem Biprisma erzeugt wird. Aus den von eindimensionalen Objekten hervorgerufenen Ablenkungen dieser ‘Minimumstrahlen’ können die Objekteigenschaften ermittelt werden. Als Beispiele werden die verschiedenen Stadien einer Diffusionszone zwischen destilliertem Wasser und wässriger Zuckerlösung quantitativ behandelt. Mit diesem Verfahren kann der Brechungsindexverlauf auch dann aufgenommen werden, wenn sich dessen Gradient lokal stark ändert. Ein Vergleich der auf diese Weise gewonnenen Brechungsindizes mit refraktometrisch gemessenen Werten ergibt gute Übereinstimmung. Aus den Maximalablenkungen zusammengehöriger Ablenkkurven wird der Diffusionskoeffizient einer wässrigenD-Glukose-Lösung bestimmt. Der Gewinnfaktor der Genauigkeit beträgt 36,6.
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