摘要:

AbstractIn den letzten Jahren sind viele Verfahren für eine Analyse der chemischen Zusammensetzung und der Kristallstruktur von Festkörper‐Oberflächen entwickelt worden. Wenn die Oberflächen nicht homogen sind, reichen Analysen, die Mittelwerte über große Objektbereiche liefern, nicht aus. Man versucht daher, die Analyseverfahren mit einer hochvergröerten Abbildung der Oberfläche zu kombinieren, um Mikroanalysen, d. h. Analysen kleiner, definierter Objektbereiche zu ermöglichen. Das Prinzip der einzelnen Verfahren, ihre Leistungsfähigkeit und der derzeitige Stand der Entwicklung werde

ISSN:0009-286X    

DOI:10.1002/cite.330461902

出版商:WILEY‐VCH Verlag    

年代:1974

数据来源: WILEY

摘要:

AbstractAusgehend von einer kurzen Darstellung der heute wichtigsten technischen Schichtdickenmeßverfahren wird das Prinzip des Betarückstreuverfahrens erläutert. Die theoretische Beschreibung der Abhängigkeit des Rückstreukoeffizienten von den Werkstoff‐Parametern und der zu messenden Schichtdicke sowie den Gerätekonstanten der Meßeinrichtung wird im Ergebnis dargestellt. Sie läßt eine gezielte Optimierung einer Meßeinrichtung für den jeweiligen Anwendungsfall zu. Eine Auswahl charakteristischer Anwendungsbeispiele zur Schichtdickenmessung nach dem Betarückstreuverfahren wird angegeben. Weiterhin wird mitgeteilt, welche Werkstoffkombinationen sich mit dem Verfahren messen lassen. Zur Bestimmung der Meßunsicherheit dient ein Nomogramm; die zugrunde liegenden qualitativen Zusammenhänge werden erläutert. Die zur Verfügung stehenden Meßgeräte und Meßplätze werden kurz beschrieben. Weiterhin geht die Arbeit noch auf die Messung von Legierungszusammensetzungen, auf die Messung von Mehrfachschichten mit dem 2‐Strahler‐Verfahren und die radiometrische Dichtemessung von Festkörpern

ISSN:0009-286X    

DOI:10.1002/cite.330461903

出版商:WILEY‐VCH Verlag    

年代:1974

数据来源: WILEY

摘要:

AbstractEs wird über den Stand der Auswertung automatisierter potentiometrischer Titrationen berichtet. Nach einem kurzen Überblick über die kommerziell angebotenen Titrationssysteme wird auf die Näherungsverfahren mit ihren systembedingten Fehlern sowie auf die exaktern Methoden der Linearisierung (Gran‐Verfahren) und Multiparameter‐Ausgleichsrechnung ausführlich eingegangen. Darüber hinaus wird auf die Bestimmungsmöglichkeiten von Dissoziationskonstanten aus automatisierten potentiometrischen Titrationen h

ISSN:0009-286X    

DOI:10.1002/cite.330461904

出版商:WILEY‐VCH Verlag    

年代:1974

数据来源: WILEY

ISSN:0009-286X    

DOI:10.1002/cite.330461905

出版商:WILEY‐VCH Verlag    

年代:1974

数据来源: WILEY

ISSN:0009-286X    

DOI:10.1002/cite.330461906

出版商:WILEY‐VCH Verlag    

年代:1974

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ISSN:0009-286X    

DOI:10.1002/cite.330461907

出版商:WILEY‐VCH Verlag    

年代:1974

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ISSN:0009-286X    

DOI:10.1002/cite.330461908

出版商:WILEY‐VCH Verlag    

年代:1974

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ISSN:0009-286X    

DOI:10.1002/cite.330461909

出版商:WILEY‐VCH Verlag    

年代:1974

数据来源: WILEY

ISSN:0009-286X    

DOI:10.1002/cite.330461910

出版商:WILEY‐VCH Verlag    

年代:1974

数据来源: WILEY

ISSN:0009-286X    

DOI:10.1002/cite.330461911

出版商:WILEY‐VCH Verlag    

年代:1974

数据来源: WILEY