摘要:

AbstractDas für eine kontrollierte Materialentwicklung benötigte Verständnis des Zusammenhangs zwischen mechanischen und anderen physikalisch‐chemischen Eigenschaften und dem mikrostrukturellen Aufbau setzt eine leistungsfähige mikroanalytische Charakterisierung voraus, die vor allem durch den Einsatz oberflächenspezifischer Untersuchungsverfahren erhalten werden kann. Unter diesen hat sich insbesondere die hochauflösende Auger‐Elektronenspektroskopie (High Resolution Auger‐Electron Spectroscopy, HR‐AES bzw. Scanning Auger Microscopy, SAM) in Verbindung mit Oberflächen‐, Bruchflächen‐ und Tiefenprofilanalysen bewährt, deren Grundlagen und Haupteinsatzgebiete unter besonderer Berücksichtigung keramischer Werkstoffe vorgestellt werden. Den Vorteilen kleiner Informationstiefe im Nanometerbereich, der hohen Ortsauflösung im Sub‐Mikrometer‐Bereich, der vergleichsweise hohen Nachweisempfindlichkeit für leichte Elemente wie B, C, N, O sowie der geringen Matrix‐Effekte bei der quantitativen Analyse stehen als Nachteile eine Reihe störender elektronenstrahlinduzierter Effekte gegenüber. Diese werden anhand ausgewählter Beispiele für oxidische‐ und nichtoxidische Keramiken erläutert, wobei besondere Betonung auf die Entstehung von elektrischen Aufladungen bei nichtleitenden Keramiken und deren Vermeidung bzw. Verminderung durch geeignete

ISSN:0933-5137    

DOI:10.1002/mawe.19900210302

出版商:WILEY‐VCH Verlag GmbH    

年代:1990

数据来源: WILEY

摘要:

AbstractZrO2‐Y2O3‐Pulver werden üblicherweise naßchemisch hergestellt und sind Voraussetzung zur Fertigung von TZP (Tetragonal Zirconia Polycrystals)‐Keramiken. Die chemische Homogenität im Pulver ist notwendig, denn die Diffusionskoeffizienten der Komponenten und die Sintertemperatur sind niedrig, so daß Inhomogenitäten nicht vollständig ausgeglichen werden könnten.Mit Hilfe der STEM‐Punktanalyse wurde der Y2O3‐Gehalt an einzelnen Kristalliten oder Kristallitbereichen mit einer lateralen Auflösung von etwa 100 × 100 nm gemessen und als Verteilungskurven dargestellt. Die Messungen sind technisch und zeitlich sehr aufwendig, sie bieten aber als einzige Methode die Möglichkeit zur direkten Charakterisierung der che

ISSN:0933-5137    

DOI:10.1002/mawe.19900210303

出版商:WILEY‐VCH Verlag GmbH    

年代:1990

数据来源: WILEY

ISSN:0933-5137    

DOI:10.1002/mawe.19900210304

出版商:WILEY‐VCH Verlag GmbH    

年代:1990

数据来源: WILEY

摘要:

AbstractBei der Entwicklung mehrphasiger, hochleistungsfähiger und temperaturbeständiger keramischer Werkstoffe spielt die analytische Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) eine wichtige Rolle. Zwei sich ergänzende, quantitative Untersuchungsmethoden stehen dabei dem Materialwissenschaftler zur Verfügung. Die energiedispersive Röntgenanalyse [1] (EDX,energydispersiveX‐ray spectroscopy) eignet sich zum Nachweis und zur Ermittlung der Konzentrationen von mittelschweren bis schweren Elementen, während sich mit der Elektronenenergieverlustspektroskopie [2] (EELS,electronenergylossspectroscopy) gerade sehr leichte bis mittelschwere Elemente nachweisen und quantitativ erfassen lassen. Ein schneller, qualitativer Überblick über die Zusammensetzung des Materiales kann dabei mit beiden Methoden erhalten werden. Eine zuverlässige quantitative Analyse erfordert jedoch häufig Erfahrung und setzt die Einsicht in die physikalischen Grundlagen, die Möglichkeiten und Grenzen der Analyseverfahren voraus. So können diese Methoden bezüglich der Genauigkeit und Nachweisgrenze nicht mit anderen Verfahren wie z. B. der Röntgenfloureszenzanalyse (RFA) konkurrieren. Ein großer Vorteil ist jedoch das hohe räumliche Auflösungsvermögen, das Analysen von 10 bis 20 nm großen

ISSN:0933-5137    

DOI:10.1002/mawe.19900210305

出版商:WILEY‐VCH Verlag GmbH    

年代:1990

数据来源: WILEY

摘要:

AbstractEs wurden die Einsatzmöglichkeiten und ‐grenzen der hochortsauflösenden Auger‐Elektronenspektrometrie als mikro‐ und oberflächenanalytische Charakterisierungsmethode für elektrisch isolierende Keramikwerkstoffe demonstriert. Die Analysen verschiedener ZrO2‐, AIN‐ und Si3N4‐Materialien wurden unter niedrigen Primärstrahlströmen und ‐spannungen bzw. durch Ausnutzung der thermischen Ionenleitfähigkeit unter erhöhter Temperatur durchgeführt. Es konnte gezeigt werden, daß die in ihren applikativen Möglichkeiten bisher elektrisch leitfähigen Objekten vorbehaltene Methode unter bestimmten Bedingungen und mit einigen Einschränkungen auch zur Analyse elektrisch isolierender Kerami

ISSN:0933-5137    

DOI:10.1002/mawe.19900210306

出版商:WILEY‐VCH Verlag GmbH    

年代:1990

数据来源: WILEY

摘要:

AbstractVerschiedene SiC‐Whisker sowie Polymer‐ bzw. CVD‐SiC Fasern und C‐Fasern wurden im Anlieferungszustand mittels Röntgendiffraktometrie, Rasterelektronenmikroskopie, analytischer Transmissionselektronenmikroskopie sowie oberflächenanalytischer Methoden (AES, XPS) mikrostrukturell untersucht. Bei der Erfassung der Verunreinigungsverteilung in keramischen Verstärkungskomponenten erwies sich die chemische Pauschalanalyse als sinnvolle Ergänzung zu den ortsauflösenden Methoden. Das gilt insbesondere für SiC‐Whisker, bei denen Strukturzustand und Reinheitsgrad deutlich von den Wachstumsbedingungen abhängen. Die untersuchten Fasern auf SiC‐Basis erwiesen sich ebenfalls als mehrphasige, nichtstöchiometrische Komponenten. Ihr Verstärkungspotential in keramischen Verbundwerkstoffen kann nicht voll ausgeschöpft werden, weil intensives SiC‐Kornwachstum bei hohen Temperaturen zu einem deutlichen

ISSN:0933-5137    

DOI:10.1002/mawe.19900210307

出版商:WILEY‐VCH Verlag GmbH    

年代:1990

数据来源: WILEY

摘要:

AbstractMicroanalytical investigations have been made on samples of ceramic fibers (SiC‐fibres (Nicalon), C‐fibre coated with TiN) and fibre‐reinforced ceramics (SiC‐ and glass‐matrices). High resolution Auger electron spectroscopy (HRAES), electron probe microanalysis (EPMA) and scanning electron microscopy were employed for these examinations. Analysis was best performed with HRAES on account of its lateral and depth resolution. AES depth profiles of ceramic fibres are reported and compared with the surface analysis of fibers in the composites after being broke

ISSN:0933-5137    

DOI:10.1002/mawe.19900210308

出版商:WILEY‐VCH Verlag GmbH    

年代:1990

数据来源: WILEY

ISSN:0933-5137    

DOI:10.1002/mawe.19900210309

出版商:WILEY‐VCH Verlag GmbH    

年代:1990

数据来源: WILEY

摘要:

AbstractAn einer zehnlagigen Titannitrid‐Titanborid‐Schicht auf WC‐Co‐Substrat wurde die Durchmischungsbreite Δz nach verschiedenen Meßmethoden bestimmt. Mit Linescans am 10°‐Schrägschliff lassen sich unter den angewandten Meß‐bedingungen Δz = minimal 30 nm nachweisen. Die visuelle Bestimmung von Δz über SE‐bilder am Schrägschliff ist nicht sinnvoll. Bei Anwendung der Tiefenprofilanalyse durch sukzessiven Abtrag mit Ar‐Ionen wurden Δz von wenigen nm nachgewiesen. Dies ist jedoch nur bei Schichtdicken von wenigen nm möglich, bei der Zehnlagenschicht mit 0,7 pm dicken Einzelschichten wird Δz wesentlich durch den Abtrag mit Argonionen beeinfluljt.Die AES‐Quantifizierung erfolgte empirisch mit Standards. In der Zehnlagenschicht bestehen die Titannitrid‐Schichten aus stöchiometrischen TiN1.0, während die Titanborid‐Schichten eine Stöchiometrie von TiB2.6bis2.9aufweisen. Die AES‐Quantifizierung wurde mit konventionellen Analyse

ISSN:0933-5137    

DOI:10.1002/mawe.19900210310

出版商:WILEY‐VCH Verlag GmbH    

年代:1990

数据来源: WILEY

ISSN:0933-5137    

DOI:10.1002/mawe.19900210311

出版商:WILEY‐VCH Verlag GmbH    

年代:1990

数据来源: WILEY