Review of Scientific Instruments


ISSN: 0034-6748        年代:1992
当前卷期:Volume 63  issue 1     [ 查看所有卷期 ]

年代:1992
 
     Volume 63  issue 1
     Volume 63  issue 2   
     Volume 63  issue 3   
     Volume 63  issue 4   
     Volume 63  issue 5   
     Volume 63  issue 6   
     Volume 63  issue 7   
     Volume 63  issue 8   
     Volume 63  issue 9   
     Volume 63  issue 10   
     Volume 63  issue 11   
     Volume 63  issue 12   
11. Observations of a bifurcation structure in a rf driven semiconductor laser using an electronic simulator
  Review of Scientific Instruments,   Volume  63,   Issue  1,   1992,   Page  75-79

Yao Huang Kao,   Chao Hung Tsai,   Ching Sheu Wang,  

Preview   |   PDF (629KB)

12. Performance of the high‐resolution SX700/II monochromator
  Review of Scientific Instruments,   Volume  63,   Issue  1,   1992,   Page  80-89

M. Domke,   T. Mandel,   A. Puschmann,   C. Xue,   D. A. Shirley,   G. Kaindl,   H. Petersen,   P. Kuske,  

Preview   |   PDF (1398KB)

13. Cooled low‐noise preamplifier for a bolometer
  Review of Scientific Instruments,   Volume  63,   Issue  1,   1992,   Page  90-92

H. P. Gush,   M. Halpern,   S. Knotek,  

Preview   |   PDF (317KB)

14. Optical sources for pulse‐position‐modulation systems
  Review of Scientific Instruments,   Volume  63,   Issue  1,   1992,   Page  93-98

H. H. Hausien,   J. D. Martin,  

Preview   |   PDF (795KB)

15. Cell design for low‐temperature time‐domain reflectance measurements
  Review of Scientific Instruments,   Volume  63,   Issue  1,   1992,   Page  99-103

J. G. Berberian,   R. H. Cole,  

Preview   |   PDF (671KB)

16. A new pulse counting low‐energy electron diffraction system based on a position sensitive detector
  Review of Scientific Instruments,   Volume  63,   Issue  1,   1992,   Page  104-113

D. Frank Ogletree,   G. S. Blackman,   R. Q. Hwang,   U. Starke,   G. A. Somorjai,   J. E. Katz,  

Preview   |   PDF (1445KB)

17. Extrapolation procedures in Mott electron polarimetry
  Review of Scientific Instruments,   Volume  63,   Issue  1,   1992,   Page  114-130

T. J. Gay,   M. A. Khakoo,   J. A. Brand,   J. E. Furst,   W. V. Meyer,   W. M. K. P. Wijayaratna,   F. B. Dunning,  

Preview   |   PDF (2415KB)

18. A topography measurement instrument based on the scanning electron microscope
  Review of Scientific Instruments,   Volume  63,   Issue  1,   1992,   Page  131-138

J. T. L. Thong,   B.C. Breton,  

Preview   |   PDF (1053KB)

19. The design of an atmospheric pressure ionization/time‐of‐flight mass spectrometer using a beam deflection method
  Review of Scientific Instruments,   Volume  63,   Issue  1,   1992,   Page  139-148

Ce Ma,   Steven M. Michael,   Mingta Chien,   Jianzhong Zhu,   David M. Lubman,  

Preview   |   PDF (1339KB)

20. Inelastic electron tunneling spectrometer for complete calibrated measurements of any two or four terminal junctions
  Review of Scientific Instruments,   Volume  63,   Issue  1,   1992,   Page  149-156

Serge Gauvin,   Roger M. Leblanc,  

Preview   |   PDF (996KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第2页 共418条