Review of Scientific Instruments


ISSN: 0034-6748        年代:1998
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11. Kilovolt x-ray scattering from a plasma
  Review of Scientific Instruments,   Volume  69,   Issue  2,   1998,   Page  418-424

Nigel C. Woolsey,   David Riley,   Eran Nardi,  

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12. Measurement of plasma density using wavelet analysis of microwave reflectometer signal
  Review of Scientific Instruments,   Volume  69,   Issue  2,   1998,   Page  425-430

L. G. Bruskin,   A. Mase,   T. Tokuzawa,   N. Oyama,   A. Itakura,   T. Tamano,  

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13. A moving coil ac magnetic susceptometer
  Review of Scientific Instruments,   Volume  69,   Issue  2,   1998,   Page  431-436

R. R. de Souza,   C. J. Magon,  

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14. A simple chemical etching technique for reproducible fabrication of robust scanning near-field fiber probes
  Review of Scientific Instruments,   Volume  69,   Issue  2,   1998,   Page  437-439

Yung-Hui Chuang,   Kuo-Gung Sun,   Chia-Jen Wang,   J. Y. Huang,   Ci-Ling Pan,  

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15. A new surface sciencein situtransmission and reflection electron microscope
  Review of Scientific Instruments,   Volume  69,   Issue  2,   1998,   Page  440-447

M. T. Marshall,   M. L. McDonald,   X. Tong,   M. Yeadon,   J. M. Gibson,  

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16. A compact superconducting magnet for magnetic resonance microscopy
  Review of Scientific Instruments,   Volume  69,   Issue  2,   1998,   Page  448-451

Stuart Crozier,   David M. Doddrell,  

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17. Differential displacement measurement using scanning x-ray beams
  Review of Scientific Instruments,   Volume  69,   Issue  2,   1998,   Page  452-456

Howard A. Canistraro,   Eric H. Jordan,   Douglas M. Pease,  

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18. Broad band and absolute measurement of transient dynamic normal velocity of surface
  Review of Scientific Instruments,   Volume  69,   Issue  2,   1998,   Page  457-459

Byoung-Geuk Kim,   Manabu Enoki,   Teruo Kishi,  

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19. Optical deflection setup for stress measurements in thin films
  Review of Scientific Instruments,   Volume  69,   Issue  2,   1998,   Page  460-462

M. Bicker,   U. von Hu¨lsen,   U. Laudahn,   A. Pundt,   U. Geyer,  

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20. A tensile stage to study thin polymer films in an environmental scanning electron microscope
  Review of Scientific Instruments,   Volume  69,   Issue  2,   1998,   Page  463-465

V. Thomas,   A. Wolfenden,  

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