Review of Scientific Instruments


ISSN: 0034-6748        年代:1969
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年代:1969
 
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1. Instrumentation for Single Crystal X‐Ray Diffraction at High Pressures
  Review of Scientific Instruments,   Volume  40,   Issue  9,   1969,   Page  1133-1136

C. E. Weir,   G. J. Piermarini,   S. Block,  

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2. Application of Microwave Reflection Technique to the Measurement of Transient and Quiescent Electrical Conductivity of Silicon
  Review of Scientific Instruments,   Volume  40,   Issue  9,   1969,   Page  1137-1141

J. A. Naber,   D. P. Snowden,  

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3. Production of a 23SHelium Beam
  Review of Scientific Instruments,   Volume  40,   Issue  9,   1969,   Page  1141-1143

E. S. Fry,   W. L. Williams,  

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4. Discrete Averaging of X‐Ray Diffraction Data Using a Multichannel Analyzer
  Review of Scientific Instruments,   Volume  40,   Issue  9,   1969,   Page  1144-1145

Martin Berman,   Sabri Ergun,  

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5. A Miniature Transducer for Measuring Low Transient Pressures
  Review of Scientific Instruments,   Volume  40,   Issue  9,   1969,   Page  1146-1151

R. Hofland,   H. S. Glick,  

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6. Mo¨ssbauer Spectroscopy with Monochromatic Circularly Polarized Radiation
  Review of Scientific Instruments,   Volume  40,   Issue  9,   1969,   Page  1151-1153

S. Shtrikman,   S. Somekh,  

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7. Application of a Variable Resistance to Arrest Oscillations in a Pulsed Capacitor Discharge Circuit
  Review of Scientific Instruments,   Volume  40,   Issue  9,   1969,   Page  1153-1157

Dah Yu Cheng,  

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8. Pulsed Photomultipliers
  Review of Scientific Instruments,   Volume  40,   Issue  9,   1969,   Page  1158-1160

F. De Marco,   E. Penco,  

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9. Miniature Low Energy X‐Ray Calibration Tube
  Review of Scientific Instruments,   Volume  40,   Issue  9,   1969,   Page  1160-1161

R. J. Grader,   J. K. Scudder,   W. E. Tindall,  

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10. Fabry‐Perot Cavity for Dielectric Measurements
  Review of Scientific Instruments,   Volume  40,   Issue  9,   1969,   Page  1162-1163

K. H. Breeden,   J. B. Langley,  

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