Technometrics


ISSN: 0040-1706        年代:1996
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年代:1996
 
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1. Neural Networks in Applied Statistics
  Technometrics,   Volume  38,   Issue  3,   1996,   Page  205-214

HalS. Stern,  

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2. Discussion
  Technometrics,   Volume  38,   Issue  3,   1996,   Page  215-218

RichardD. De Veaux,   LyleH. Ungar,  

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3. Discussion
  Technometrics,   Volume  38,   Issue  3,   1996,   Page  218-220

Douglas Nychka,   Michael O'connell,  

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4. Reply
  Technometrics,   Volume  38,   Issue  3,   1996,   Page  220-220

HalS. Stern,  

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5. A Comparison of Uncertainty Criteria for Calibration
  Technometrics,   Volume  38,   Issue  3,   1996,   Page  221-229

RobertW. Mee,   KeithR. Eberhardt,  

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6. Grouped Data-Sequential Probability Ratio Tests and Cumulative Sum Control Charts
  Technometrics,   Volume  38,   Issue  3,   1996,   Page  230-237

StefanH. Steiner,   P.Lee Geyer,   Georgeo. Wesolowsky,  

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7. Standard Errors for the Eigenvalues in Second-Order Response Surface Models
  Technometrics,   Volume  38,   Issue  3,   1996,   Page  238-246

Søren Bisgaard,   Bruce Ankenman,  

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8. Inference About Defects in the Presence of Masking
  Technometrics,   Volume  38,   Issue  3,   1996,   Page  247-255

BettyJ. Flehinger,   Benjamin Reiser,   Emmanuel Yashchin,  

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9. Some New Tests of the Power Law Process
  Technometrics,   Volume  38,   Issue  3,   1996,   Page  256-265

R.D. Baker,  

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10. Constrained Smoothing of Histograms and Scatterplots With Simulated Annealing
  Technometrics,   Volume  38,   Issue  3,   1996,   Page  266-274

ClaytonV. Deutsch,  

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