Technometrics


ISSN: 0040-1706        年代:1978
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年代:1978
 
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1. Editorial Collaborators 1978
  Technometrics,   Volume  20,   Issue  4,   1978,   Page  353-354

J.Stuart Hunter,   FredC. Leone,   Harry Smith,   DonaldA. Gardiner,   WilliamH. Lawton,  

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2. Confidence Interval Estimation for the Weibull and Extreme Value Distributions
  Technometrics,   Volume  20,   Issue  4,   1978,   Page  355-364

J.F. Lawless,  

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3. Discussion
  Technometrics,   Volume  20,   Issue  4,   1978,   Page  365-368

RobertG. Easterling,  

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4. D-Optimal Fractions of Three-Level Factorial Designs
  Technometrics,   Volume  20,   Issue  4,   1978,   Page  369-380

T.J. Mitchell,   C.K. Bayne,  

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5. Discussion
  Technometrics,   Volume  20,   Issue  4,   1978,   Page  381-382

JamesM. Lucas,  

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6. Response
  Technometrics,   Volume  20,   Issue  4,   1978,   Page  383-383

T.J. Mitchell,   C.K. Bayne,  

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7. Patterns in Residuals in the Two-Way Layout
  Technometrics,   Volume  20,   Issue  4,   1978,   Page  385-395

Cuthbert Daniel,  

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8. Cross-Validatory Estimation of the Number of Components in Factor and Principal Components Models
  Technometrics,   Volume  20,   Issue  4,   1978,   Page  397-405

Svante Wold,  

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9. Meaningful Multicollinearity Measures
  Technometrics,   Volume  20,   Issue  4,   1978,   Page  407-412

AndrewR. Willan,   DonaldG. Watts,  

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10. Slope-Rotatable Central Composite Designs
  Technometrics,   Volume  20,   Issue  4,   1978,   Page  413-417

R.J. Hader,   SungH. Park,  

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