Technometrics


ISSN: 0040-1706        年代:1988
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年代:1988
 
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1. A Quick and Easy Multiple-Use Calibration-Curve Procedure
  Technometrics,   Volume  30,   Issue  2,   1988,   Page  137-141

R.J. Carroll,   C.H. Spiegelman,   J. Sacks,  

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2. Bayesian Reliability Analysis of Series Systems of Binomial Subsystems and Components
  Technometrics,   Volume  30,   Issue  2,   1988,   Page  143-154

H.F. Martz,   R.A. Wailer,   E.T. Fickas,  

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3. One-Sided Confidence Bands for Cumulative Distribution Functions
  Technometrics,   Volume  30,   Issue  2,   1988,   Page  155-159

R.C. H. Cheng,   T.C. lies,  

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4. Confidence Limits for Stress-Strength Models With Explanatory Variables
  Technometrics,   Volume  30,   Issue  2,   1988,   Page  161-168

I. Guttman,   R.A. Johnson,   G.K. Bhattacharyya,   B. Reiser,  

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5. Test of Equal Gamma-Distribution Means With Unknown and Unequal Shape Parameters
  Technometrics,   Volume  30,   Issue  2,   1988,   Page  169-174

Wei-Kei Shiue,   LeeJ. Bain,   Max Engelhardt,  

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6. A Two-Stage Life Test for the Exponential Parameter
  Technometrics,   Volume  30,   Issue  2,   1988,   Page  175-180

Kenneth Fairbanks,  

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7. Estimation of Time Series Parameters in the Presence of Outliers
  Technometrics,   Volume  30,   Issue  2,   1988,   Page  193-204

Ih Chang,   GeorgeC. Tiao,   Chung Chen,  

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8. Regression Diagnostics to Detect Nonrandom Missingness in Linear Regression
  Technometrics,   Volume  30,   Issue  2,   1988,   Page  205-214

JeffreyS. Simonoff,  

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9. Transformations and Influential Observations in Minimum Sum of Absolute Errors Regression
  Technometrics,   Volume  30,   Issue  2,   1988,   Page  215-220

I. Parker,  

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10. Influence Measures in Ridge Regression
  Technometrics,   Volume  30,   Issue  2,   1988,   Page  221-227

Esteban Walker,   JeffreyB. Birch,  

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