Technometrics


ISSN: 0040-1706        年代:1990
当前卷期:Volume 32  issue 1     [ 查看所有卷期 ]

年代:1990
 
     Volume 32  issue 1
     Volume 32  issue 2   
     Volume 32  issue 3   
     Volume 32  issue 4   
1. Exponentially Weighted Moving Average Control Schemes: Properties and Enhancements
  Technometrics,   Volume  32,   Issue  1,   1990,   Page  1-12

JamesM. Lucas,   MichaelS. Saccucci,  

Preview   |   PDF (1170KB)

2. Discussion
  Technometrics,   Volume  32,   Issue  1,   1990,   Page  13-16

RobertV. Baxley,  

Preview   |   PDF (307KB)

3. Discussion
  Technometrics,   Volume  32,   Issue  1,   1990,   Page  17-18

WilliamH. Woodall,   HazemD. Maragah,  

Preview   |   PDF (231KB)

4. Discussion
  Technometrics,   Volume  32,   Issue  1,   1990,   Page  19-20

FrederickW. Faltin,   GeraldJ. Hahn,   WilliamT. Tucker,  

Preview   |   PDF (202KB)

5. Discussion
  Technometrics,   Volume  32,   Issue  1,   1990,   Page  21-22

J.Stuart Hunter,  

Preview   |   PDF (166KB)

6. Discussion
  Technometrics,   Volume  32,   Issue  1,   1990,   Page  23-26

JohnF. MacGregor,   ThomasJ. Harris,  

Preview   |   PDF (361KB)

7. Response
  Technometrics,   Volume  32,   Issue  1,   1990,   Page  27-29

JamesM. Lucas,   MichaelS. Saccucci,  

Preview   |   PDF (337KB)

8. Estimating Outgoing Quality Using the Quality Measurement Plan
  Technometrics,   Volume  32,   Issue  1,   1990,   Page  31-41

GaryG. Brush,   Bruce Hoadley,   Bernard Saperstein,  

Preview   |   PDF (1131KB)

9. Simultaneous Acceptance Control Charts for Two Correlated Processes
  Technometrics,   Volume  32,   Issue  1,   1990,   Page  43-48

G.O. Wesolowsky,  

Preview   |   PDF (622KB)

10. Deformation Analysis by Statistical Methods
  Technometrics,   Volume  32,   Issue  1,   1990,   Page  49-57

W.F. Caspary,   W. Haen,   H. Borutta,  

Preview   |   PDF (857KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共34条