Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1998
当前卷期:Volume 72  issue 8     [ 查看所有卷期 ]

年代:1998
 
     Volume 72  issue 1   
     Volume 72  issue 2   
     Volume 72  issue 3   
     Volume 72  issue 4   
     Volume 72  issue 5   
     Volume 72  issue 6   
     Volume 72  issue 7   
     Volume 72  issue 8
     Volume 72  issue 9   
     Volume 72  issue 10   
     Volume 72  issue 11   
     Volume 72  issue 12   
     Volume 72  issue 13   
     Volume 72  issue 14   
     Volume 72  issue 15   
     Volume 72  issue 16   
     Volume 72  issue 17   
     Volume 72  issue 18   
     Volume 72  issue 19   
     Volume 72  issue 20   
     Volume 72  issue 21   
     Volume 72  issue 22   
     Volume 72  issue 23   
     Volume 72  issue 24   
     Volume 72  issue 25   
     Volume 72  issue 26   
     Volume 73  issue 1   
     Volume 73  issue 2   
     Volume 73  issue 3   
     Volume 73  issue 4   
     Volume 73  issue 5   
     Volume 73  issue 6   
     Volume 73  issue 7   
     Volume 73  issue 8   
     Volume 73  issue 9   
     Volume 73  issue 10   
     Volume 73  issue 11   
     Volume 73  issue 12   
     Volume 73  issue 13   
     Volume 73  issue 14   
     Volume 73  issue 15   
     Volume 73  issue 16   
     Volume 73  issue 17   
     Volume 73  issue 18   
     Volume 73  issue 19   
     Volume 73  issue 20   
     Volume 73  issue 21   
     Volume 73  issue 22   
     Volume 73  issue 23   
     Volume 73  issue 24   
     Volume 73  issue 25   
     Volume 73  issue 26   
11. In situdetermination of the surface roughness of diamond films using optical pyrometry
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  903-905

Z. L. Akkerman,   Y. Song,   Z. Yin,   F. W. Smith,   Roy Gat,  

Preview   |   PDF (75KB)

12. Secondary ion yield changes on rippled interfaces
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  906-908

Maxim A. Makeev,   Albert-La´szlo´ Baraba´si,  

Preview   |   PDF (101KB)

13. Microstructure of epitaxialSrRuO3thin films on (001)SrTiO3
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  909-911

J. C. Jiang,   X. Q. Pan,   C. L. Chen,  

Preview   |   PDF (319KB)

14. Defect induced lowering of activation energies at step bands in Co/Cu(100)
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  912-914

S. T. Coyle,   M. R. Scheinfein,   James L. Blue,  

Preview   |   PDF (764KB)

15. Potentiometry and repair of electrically stressed nanowires using atomic force microscopy
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  915-917

M. C. Hersam,   A. C. F. Hoole,   S. J. O’Shea,   M. E. Welland,  

Preview   |   PDF (832KB)

16. Mechanical relaxation and “intramolecular plasticity” in carbon nanotubes
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  918-920

B. I. Yakobson,  

Preview   |   PDF (115KB)

17. Magnesium induced changes in the selective growth of GaN by metalorganic vapor phase epitaxy
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  921-923

B. Beaumont,   S. Haffouz,   P. Gibart,  

Preview   |   PDF (271KB)

18. Two-peak electroluminescence of porous silicon in persulphate solution
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  924-926

R. Q. Wang,   J. J. Li,   S. M. Cai,   Z. F. Liu,   S. L. Zhang,  

Preview   |   PDF (73KB)

19. Near-field scanning optical spectroscopy of an InGaN quantum well
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  927-929

P. A. Crowell,   D. K. Young,   S. Keller,   E. L. Hu,   D. D. Awschalom,  

Preview   |   PDF (315KB)

20. Growth and characterization of thinSi80C20films based uponSi4Cbuilding blocks
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  930-932

J. Kouvetakis,   D. Chandrasekhar,   David J. Smith,  

Preview   |   PDF (294KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第2页 共41条