Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1995
当前卷期:Volume 66  issue 8     [ 查看所有卷期 ]

年代:1995
 
     Volume 66  issue 1   
     Volume 66  issue 2   
     Volume 66  issue 3   
     Volume 66  issue 4   
     Volume 66  issue 5   
     Volume 66  issue 6   
     Volume 66  issue 7   
     Volume 66  issue 8
     Volume 66  issue 9   
     Volume 66  issue 10   
     Volume 66  issue 11   
     Volume 66  issue 12   
     Volume 66  issue 13   
     Volume 66  issue 14   
     Volume 66  issue 15   
     Volume 66  issue 16   
     Volume 66  issue 17   
     Volume 66  issue 18   
     Volume 66  issue 19   
     Volume 66  issue 20   
     Volume 66  issue 21   
     Volume 66  issue 22   
     Volume 66  issue 23   
     Volume 66  issue 24   
     Volume 66  issue 25   
     Volume 66  issue 26   
     Volume 67  issue 1   
     Volume 67  issue 2   
     Volume 67  issue 3   
     Volume 67  issue 4   
     Volume 67  issue 5   
     Volume 67  issue 6   
     Volume 67  issue 7   
     Volume 67  issue 8   
     Volume 67  issue 9   
     Volume 67  issue 10   
     Volume 67  issue 11   
     Volume 67  issue 12   
     Volume 67  issue 13   
     Volume 67  issue 14   
     Volume 67  issue 15   
     Volume 67  issue 16   
     Volume 67  issue 17   
     Volume 67  issue 18   
     Volume 67  issue 19   
     Volume 67  issue 20   
     Volume 67  issue 21   
     Volume 67  issue 22   
     Volume 67  issue 23   
     Volume 67  issue 24   
     Volume 67  issue 25   
     Volume 67  issue 26   
11. Observation by scanning tunneling microscopy of a hexagonal Au(111) surface reconstruction induced by oxygen
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  8,   1995,   Page  935-937

L. Huang,   J. Chevrier,   P. Zeppenfeld,   G. Cosma,  

Preview   |   PDF (288KB)

12. Bond‐structure changes of liquid phase deposited oxide (SiO2−xFx) on N2annealing
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  8,   1995,   Page  938-940

Ching‐Fa Yeh,   Chun‐Lin Chen,   Water Lur,   Po‐Wen Yen,  

Preview   |   PDF (63KB)

13. Mechanical properties of submicron‐grained TiAl alloys prepared by mechanical alloying
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  8,   1995,   Page  941-943

M. Oehring,   F. Appel,   Th. Pfullmann,   R. Bormann,  

Preview   |   PDF (185KB)

14. Ordered, quasiepitaxial growth of an organic thin film on Se‐passivated GaAs(100)
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  8,   1995,   Page  944-946

Y. Hirose,   S. R. Forrest,   A. Kahn,  

Preview   |   PDF (99KB)

15. X‐ray reciprocal space mapping of GaAs/AlAs quantum wires and quantum dots
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  8,   1995,   Page  947-949

A. A. Darhuber,   E. Koppensteiner,   G. Bauer,   P. D. Wang,   Y. P. Song,   C. M. Sotomayor Torres,   M. C. Holland,  

Preview   |   PDF (60KB)

16. Infrared reflection spectra of CdIn2O4films
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  8,   1995,   Page  950-952

Wanlu Wang,   Kejun Liao,  

Preview   |   PDF (56KB)

17. Growth mode transition and photoluminescence properties of Si1−xGex/Si quantum well structures with high Ge composition
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  8,   1995,   Page  953-955

H. Sunamura,   Y. Shiraki,   S. Fukatsu,  

Preview   |   PDF (162KB)

18. Estimation of mean acoustic reflection coefficient of polycrystalline aggregate
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  8,   1995,   Page  956-958

I. Ihara,   H. Koguchi,   T. Aizawa,   J. Kihara,  

Preview   |   PDF (241KB)

19. In‐plane polarized optical interconduction‐subband transitions in quantum wells
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  8,   1995,   Page  959-961

Rui Q. Yang,  

Preview   |   PDF (122KB)

20. On the carrier mobility in forward‐biased semiconductor barriers
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  8,   1995,   Page  962-964

Mark Lundstrom,   Shin’ichi Tanaka,  

Preview   |   PDF (80KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第2页 共39条