Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1996
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11. Large photoinduced ferroelectric coercive field increase and photodefined domain pattern in lithium‐tantalate crystal
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  25,   1996,   Page  3803-3805

Shiuh Chao,   Chien‐Chung Hung,  

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12. Single molecule fluorescence in inhomogeneous environments
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  25,   1996,   Page  3806-3808

Lukas Novotny,  

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13. High resolution fluorescence imaging with cantilevered near‐field fiber optic probes
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  25,   1996,   Page  3809-3811

Chad E. Talley,   Gregory A. Cooksey,   Robert C. Dunn,  

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14. Fourth‐harmonic generation of picosecond glass laser pulses with cesium lithium borate crystals
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  25,   1996,   Page  3812-3814

Lalit B. Sharma,   H. Daido,   Y. Kato,   S. Nakai,   T. Zhang,   Y. Mori,   T. Sasaki,  

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15. Improving the plasma immersion ion implantation impact energy inside a cylindrical bore by using an auxiliary electrode
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  25,   1996,   Page  3815-3817

Xuchu Zeng,   Baoyin Tang,   Paul K. Chu,  

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16. Stochastic electron heating in bounded radio‐frequency plasmas
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  25,   1996,   Page  3818-3820

I. D. Kaganovich,   V. I. Kolobov,   L. D. Tsendin,  

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17. Kinetics of processes in the Ti–Si1−xGexsystems
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  25,   1996,   Page  3821-3823

W. Freiman,   A. Eyal,   Yu. L. Khait,   R. Beserman,   K. Dettmer,  

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18. Characterization of 3C–SiC crystals grown by thermal decomposition of methyltrichlorosilane
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  25,   1996,   Page  3824-3826

A. J. Steckl,   J. Devrajan,   S. Tlali,   H. E. Jackson,   C. Tran,   S. N. Gorin,   L. M. Ivanova,  

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19. Brillouin spectroscopy on dried sonogels
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  25,   1996,   Page  3827-3829

M. Garci´a‐Herna´ndez,   R. J. Jime´nez‐Riobo´o,   C. Prieto,   J. J. Fuentes‐Gallego,   E. Blanco,   M. Rami´rez‐del‐Solar,  

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20. Measuring Ge segregation by real‐time stress monitoring during Si1−xGexmolecular beam epitaxy
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  25,   1996,   Page  3830-3832

J. A. Floro,   E. Chason,  

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