Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1987
当前卷期:Volume 51  issue 6     [ 查看所有卷期 ]

年代:1987
 
     Volume 50  issue 1   
     Volume 50  issue 2   
     Volume 50  issue 3   
     Volume 50  issue 4   
     Volume 50  issue 5   
     Volume 50  issue 6   
     Volume 50  issue 7   
     Volume 50  issue 8   
     Volume 50  issue 9   
     Volume 50  issue 10   
     Volume 50  issue 11   
     Volume 50  issue 12   
     Volume 50  issue 13   
     Volume 50  issue 14   
     Volume 50  issue 15   
     Volume 50  issue 16   
     Volume 50  issue 17   
     Volume 50  issue 18   
     Volume 50  issue 19   
     Volume 50  issue 20   
     Volume 50  issue 21   
     Volume 50  issue 22   
     Volume 50  issue 23   
     Volume 50  issue 24   
     Volume 50  issue 25   
     Volume 50  issue 26   
     Volume 51  issue 1   
     Volume 51  issue 2   
     Volume 51  issue 3   
     Volume 51  issue 4   
     Volume 51  issue 5   
     Volume 51  issue 6
     Volume 51  issue 7   
     Volume 51  issue 8   
     Volume 51  issue 9   
     Volume 51  issue 10   
     Volume 51  issue 11   
     Volume 51  issue 12   
     Volume 51  issue 13   
     Volume 51  issue 14   
     Volume 51  issue 15   
     Volume 51  issue 16   
     Volume 51  issue 17   
     Volume 51  issue 18   
     Volume 51  issue 19   
     Volume 51  issue 20   
     Volume 51  issue 21   
     Volume 51  issue 22   
     Volume 51  issue 23   
     Volume 51  issue 24   
     Volume 51  issue 25   
     Volume 51  issue 26   
11. Electric field distribution in the cathode sheath of an electron beam glow discharge
  Applied Physics Letters,   Volume  51,   Issue  6,   1987,   Page  409-411

S. A. Lee,   L.‐U. A. Andersen,   J. J. Rocca,   M. Marconi,   N. D. Reesor,  

Preview   |   PDF (330KB)

12. Equilibrium temperature and related defects in intrinsic glow discharge amorphous silicon
  Applied Physics Letters,   Volume  51,   Issue  6,   1987,   Page  412-414

T. J. McMahon,   R. Tsu,  

Preview   |   PDF (328KB)

13. Temporary laser damage threshold enhancement by laser conditioning of antireflection‐coated glass
  Applied Physics Letters,   Volume  51,   Issue  6,   1987,   Page  415-417

M. E. Frink,   J. W. Arenberg,   D. W. Mordaunt,   S. C. Seitel,   M. T. Babb,   E. A. Teppo,  

Preview   |   PDF (184KB)

14. Deconvolution of the infrared absorption peak of the vibrational stretching mode of silicon dioxide: Evidence for structural order?
  Applied Physics Letters,   Volume  51,   Issue  6,   1987,   Page  418-420

Ian W. Boyd,  

Preview   |   PDF (200KB)

15. Degradation of micron‐sized CrSi2lines on polycrystalline silicon
  Applied Physics Letters,   Volume  51,   Issue  6,   1987,   Page  421-423

J. R. Phillips,   L. R. Zheng,   J. W. Mayer,  

Preview   |   PDF (446KB)

16. Void formation in thin Al films
  Applied Physics Letters,   Volume  51,   Issue  6,   1987,   Page  424-426

E. G. Colgan,   C.‐Y. Li,   J. W. Mayer,  

Preview   |   PDF (374KB)

17. New probe of thin‐film microstructure
  Applied Physics Letters,   Volume  51,   Issue  6,   1987,   Page  427-429

Victor Mizrahi,   F. Suits,   J. E. Sipe,   U. J. Gibson,   G. I. Stegeman,  

Preview   |   PDF (289KB)

18. Nonlinear excitonic optical absorption in GaSb
  Applied Physics Letters,   Volume  51,   Issue  6,   1987,   Page  430-432

A. M. Fox,   A. C. Maciel,   J. F. Ryan,   T. Kerr,  

Preview   |   PDF (298KB)

19. Electron trap center generation due to hole trapping in SiO2under Fowler–Nordheim tunneling stress
  Applied Physics Letters,   Volume  51,   Issue  6,   1987,   Page  433-435

Hidetsugu Uchida,   Tsuneo Ajioka,  

Preview   |   PDF (275KB)

20. Acoustoelectric effects in superlattices using a separate‐medium structure
  Applied Physics Letters,   Volume  51,   Issue  6,   1987,   Page  436-438

M. Tabib‐Azar,   P. Das,  

Preview   |   PDF (370KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第2页 共29条