Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1998
当前卷期:Volume 72  issue 24     [ 查看所有卷期 ]

年代:1998
 
     Volume 72  issue 1   
     Volume 72  issue 2   
     Volume 72  issue 3   
     Volume 72  issue 4   
     Volume 72  issue 5   
     Volume 72  issue 6   
     Volume 72  issue 7   
     Volume 72  issue 8   
     Volume 72  issue 9   
     Volume 72  issue 10   
     Volume 72  issue 11   
     Volume 72  issue 12   
     Volume 72  issue 13   
     Volume 72  issue 14   
     Volume 72  issue 15   
     Volume 72  issue 16   
     Volume 72  issue 17   
     Volume 72  issue 18   
     Volume 72  issue 19   
     Volume 72  issue 20   
     Volume 72  issue 21   
     Volume 72  issue 22   
     Volume 72  issue 23   
     Volume 72  issue 24
     Volume 72  issue 25   
     Volume 72  issue 26   
     Volume 73  issue 1   
     Volume 73  issue 2   
     Volume 73  issue 3   
     Volume 73  issue 4   
     Volume 73  issue 5   
     Volume 73  issue 6   
     Volume 73  issue 7   
     Volume 73  issue 8   
     Volume 73  issue 9   
     Volume 73  issue 10   
     Volume 73  issue 11   
     Volume 73  issue 12   
     Volume 73  issue 13   
     Volume 73  issue 14   
     Volume 73  issue 15   
     Volume 73  issue 16   
     Volume 73  issue 17   
     Volume 73  issue 18   
     Volume 73  issue 19   
     Volume 73  issue 20   
     Volume 73  issue 21   
     Volume 73  issue 22   
     Volume 73  issue 23   
     Volume 73  issue 24   
     Volume 73  issue 25   
     Volume 73  issue 26   
11. Green photoluminescence from Er-containing amorphous SiN thin films
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  24,   1998,   Page  3127-3129

A. R. Zanatta,   L. A. O. Nunes,  

Preview   |   PDF (84KB)

12. High-power&lgr;≈8 &mgr;mquantum cascade lasers with near optimum performance
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  24,   1998,   Page  3130-3132

Claire Gmachl,   Alessandro Tredicucci,   Federico Capasso,   Albert L. Hutchinson,   Deborah L. Sivco,   James N. Baillargeon,   Alfred Y. Cho,  

Preview   |   PDF (751KB)

13. Focused ion-beam fabrication of fiber probes with well-defined apertures for use in near-field scanning optical microscopy
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  24,   1998,   Page  3133-3135

Saeed Pilevar,   Klaus Edinger,   Walid Atia,   Igor Smolyaninov,   Christopher Davis,  

Preview   |   PDF (228KB)

14. Red–green–blue photopumped lasing from ZnCdMgSe/ZnCdSe quantum well laser structures grown on InP
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  24,   1998,   Page  3136-3138

L. Zeng,   B. X. Yang,   A. Cavus,   W. Lin,   Y. Y. Luo,   M. C. Tamargo,   Y. Guo,   Y. C. Chen,  

Preview   |   PDF (69KB)

15. Polymer-based highly multimode electro-optic waveguide modulator
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  24,   1998,   Page  3139-3141

De-Gui Sun,   Ray T. Chen,  

Preview   |   PDF (538KB)

16. Elastic and plastic deformation of diamondlike carbons
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  24,   1998,   Page  3142-3144

A. M. Stoneham,   P. D. Godwin,   A. P. Sutton,   S. J. Bull,  

Preview   |   PDF (70KB)

17. Determination of the ordered structures ofPb(Mg1/3Nb2/3)O3andBa(Mg1/3Nb2/3)O3by atomic-resolution Z-contrast imaging
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  24,   1998,   Page  3145-3147

Y. Yan,   S. J. Pennycook,   Z. Xu,   D. Viehland,  

Preview   |   PDF (430KB)

18. Topography measurements of the critical thickness of ZnSe grown on GaAs
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  24,   1998,   Page  3148-3150

G. Horsburgh,   K. A. Prior,   W. Meredith,   I. Galbraith,   B. C. Cavenett,   C. R. Whitehouse,   G. Lacey,   A. G. Cullis,   P. J. Parbrook,   P. Mo¨ck,   K. Mizuno,  

Preview   |   PDF (221KB)

19. Self-regulated growth of tilted superlattices by atomic layer epitaxy
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  24,   1998,   Page  3151-3153

J. M. Hartmann,   M. Charleux,   J. Cibert,   H. Mariette,  

Preview   |   PDF (99KB)

20. High-resolution imaging of contact potential difference with ultrahigh vacuum noncontact atomic force microscope
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  24,   1998,   Page  3154-3156

Shin’ichi Kitamura,   Masashi Iwatsuki,  

Preview   |   PDF (376KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第2页 共44条