Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1983
当前卷期:Volume 43  issue 2     [ 查看所有卷期 ]

年代:1983
 
     Volume 42  issue 1   
     Volume 42  issue 2   
     Volume 42  issue 3   
     Volume 42  issue 4   
     Volume 42  issue 5   
     Volume 42  issue 6   
     Volume 42  issue 7   
     Volume 42  issue 8   
     Volume 42  issue 9   
     Volume 42  issue 10   
     Volume 42  issue 11   
     Volume 42  issue 12   
     Volume 43  issue 1   
     Volume 43  issue 2
     Volume 43  issue 3   
     Volume 43  issue 4   
     Volume 43  issue 5   
     Volume 43  issue 6   
     Volume 43  issue 7   
     Volume 43  issue 8   
     Volume 43  issue 9   
     Volume 43  issue 10   
     Volume 43  issue 11   
     Volume 43  issue 12   
11. Surface photoacoustic wave spectroscopy of thin films
  Applied Physics Letters,   Volume  43,   Issue  2,   1983,   Page  157-159

S. R. J. Brueck,   T. F. Deutsch,   D. E. Oates,  

Preview   |   PDF (248KB)

12. A novel technique for enhancing photoacoustic signals from solids
  Applied Physics Letters,   Volume  43,   Issue  2,   1983,   Page  160-162

P. Ganguly,   T. Somasundaram,  

Preview   |   PDF (172KB)

13. Simultaneous ultraviolet laser triggering of two multimegavolt gas switches
  Applied Physics Letters,   Volume  43,   Issue  2,   1983,   Page  163-165

R. G. Adams,   D. L. Smith,   J. R. Woodworth,  

Preview   |   PDF (163KB)

14. Thin‐film thickness measurements with thermal waves
  Applied Physics Letters,   Volume  43,   Issue  2,   1983,   Page  166-168

Allan Rosencwaig,   Jon Opsal,   David L. Willenborg,  

Preview   |   PDF (235KB)

15. Time‐resolved temperature measurement of picosecond laser irradiated silicon
  Applied Physics Letters,   Volume  43,   Issue  2,   1983,   Page  168-170

L. A. Lompre´,   J. M. Liu,   H. Kurz,   N. Bloembergen,  

Preview   |   PDF (234KB)

16. Freedericksz transition of twisted nematic cells
  Applied Physics Letters,   Volume  43,   Issue  2,   1983,   Page  171-173

K. H. Yang,  

Preview   |   PDF (177KB)

17. InP surface states and reduced surface recombination velocity
  Applied Physics Letters,   Volume  43,   Issue  2,   1983,   Page  174-176

L. J. Brillson,   Y. Shapira,   A. Heller,  

Preview   |   PDF (272KB)

18. Measurement of local stress in laser‐recrystallized lateral epitaxial silicon films over silicon dioxide using Raman scattering
  Applied Physics Letters,   Volume  43,   Issue  2,   1983,   Page  177-179

Paul Zorabedian,   Fran Adar,  

Preview   |   PDF (226KB)

19. Advantages of the HgTe‐CdTe superlattice as an infrared detector material
  Applied Physics Letters,   Volume  43,   Issue  2,   1983,   Page  180-182

D. L. Smith,   T. C. McGill,   J. N. Schulman,  

Preview   |   PDF (246KB)

20. Inversion layers at PbTe interfaces
  Applied Physics Letters,   Volume  43,   Issue  2,   1983,   Page  182-184

F. Cerrina,   R. R. Daniels,   V. Fano,  

Preview   |   PDF (217KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第2页 共31条