Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1997
当前卷期:Volume 71  issue 1     [ 查看所有卷期 ]

年代:1997
 
     Volume 70  issue 1   
     Volume 70  issue 2   
     Volume 70  issue 3   
     Volume 70  issue 4   
     Volume 70  issue 5   
     Volume 70  issue 6   
     Volume 70  issue 7   
     Volume 70  issue 8   
     Volume 70  issue 9   
     Volume 70  issue 10   
     Volume 70  issue 11   
     Volume 70  issue 12   
     Volume 70  issue 13   
     Volume 70  issue 14   
     Volume 70  issue 15   
     Volume 70  issue 16   
     Volume 70  issue 17   
     Volume 70  issue 18   
     Volume 70  issue 19   
     Volume 70  issue 20   
     Volume 70  issue 21   
     Volume 70  issue 22   
     Volume 70  issue 23   
     Volume 70  issue 24   
     Volume 70  issue 25   
     Volume 70  issue 26   
     Volume 71  issue 1
     Volume 71  issue 2   
     Volume 71  issue 3   
     Volume 71  issue 4   
     Volume 71  issue 5   
     Volume 71  issue 6   
     Volume 71  issue 7   
     Volume 71  issue 8   
     Volume 71  issue 9   
     Volume 71  issue 10   
     Volume 71  issue 11   
     Volume 71  issue 12   
     Volume 71  issue 13   
     Volume 71  issue 14   
     Volume 71  issue 15   
     Volume 71  issue 16   
     Volume 71  issue 17   
     Volume 71  issue 18   
     Volume 71  issue 19   
     Volume 71  issue 20   
     Volume 71  issue 21   
     Volume 71  issue 22   
     Volume 71  issue 23   
     Volume 71  issue 24   
     Volume 71  issue 25   
     Volume 71  issue 26   
21. Soldering reaction between eutectic SnPb and plated Pd/Ni thin films on Cu leadframe
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  1,   1997,   Page  61-63

P. G. Kim,   K. N. Tu,   D. C. Abbott,  

Preview   |   PDF (241KB)

22. Evaluation of effective mass transport coefficients through comparison of solidification on the ground and on board a satellite
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  1,   1997,   Page  64-65

R. P. Liu,   L. L. Sun,   J. H. Zhao,   X. Y. Zhang,   D. W. He,   Z. C. Qin,   Y. F. Xu,   W. K. Wang,  

Preview   |   PDF (193KB)

23. Anisotropic short-range structure ofCo0.16Pd0.84alloy films having perpendicular magnetic anisotropy
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  1,   1997,   Page  66-68

Sang-Koog Kim,   V. A. Chernov,   J. B. Kortright,   Y. M. Koo,  

Preview   |   PDF (93KB)

24. An optical spectroscopy for detecting quantized polarization waves of excitons
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  1,   1997,   Page  69-71

J. Madrigal-Melchor,   F. Pe´rez-Rodrı´guez,   J. A. Maytorena,   W. L. Mocha´n,  

Preview   |   PDF (87KB)

25. Long range order inAlxGa1−xNfilms grown by molecular beam epitaxy
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  1,   1997,   Page  72-74

D. Korakakis,   K. F. Ludwig,   T. D. Moustakas,  

Preview   |   PDF (80KB)

26. Ultrafast hole–phonon interactions in GaAs
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  1,   1997,   Page  75-77

N. Del Fatti,   P. Langot,   R. Tommasi,   F. Valle´e,  

Preview   |   PDF (57KB)

27. GaAs/AlGaAs quantum-well infrared photodetectors on GaAs-on-Si substrates
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  1,   1997,   Page  78-80

D. K. Sengupta,   W. Fang,   J. I. Malin,   J. Li,   T. Horton,   A. P. Curtis,   K. C. Hsieh,   S. L. Chuang,   H. Chen,   M. Feng,   G. E. Stillman,   L. Li,   H. C. Liu,   K. M. S. V. Bandara,   S. D. Gunapala,   W. I. Wang,  

Preview   |   PDF (119KB)

28. Characterization ofSrBi2Ta2O9ferroelectric thin films deposited at low temperatures by plasma-enhanced metalorganic chemical vapor deposition
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  1,   1997,   Page  81-83

Nak-Jin Seong,   Soon-Gil Yoon,   Seaung-Suk Lee,  

Preview   |   PDF (73KB)

29. Effects of high hydrogen dilution at low temperature on the film properties of hydrogenated amorphous silicon germanium
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  1,   1997,   Page  84-86

Masaki Shima,   Akira Terakawa,   Masao Isomura,   Makoto Tanaka,   Seiichi Kiyama,   Shinya Tsuda,  

Preview   |   PDF (62KB)

30. Determination of interface layer strain ofSi/SiO2interfaces by reflectance difference spectroscopy
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  1,   1997,   Page  87-89

Z. Yang,   Y. H. Chen,   Jacob Y. L. Ho,   W. K. Liu,   X. M. Fang,   P. J. McCann,  

Preview   |   PDF (75KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第3页 共50条