Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1990
当前卷期:Volume 56  issue 7     [ 查看所有卷期 ]

年代:1990
 
     Volume 56  issue 1   
     Volume 56  issue 2   
     Volume 56  issue 3   
     Volume 56  issue 4   
     Volume 56  issue 5   
     Volume 56  issue 6   
     Volume 56  issue 7
     Volume 56  issue 8   
     Volume 56  issue 9   
     Volume 56  issue 10   
     Volume 56  issue 11   
     Volume 56  issue 12   
     Volume 56  issue 13   
     Volume 56  issue 14   
     Volume 56  issue 15   
     Volume 56  issue 16   
     Volume 56  issue 17   
     Volume 56  issue 18   
     Volume 56  issue 19   
     Volume 56  issue 20   
     Volume 56  issue 21   
     Volume 56  issue 22   
     Volume 56  issue 23   
     Volume 56  issue 24   
     Volume 56  issue 25   
     Volume 56  issue 26   
     Volume 57  issue 1   
     Volume 57  issue 2   
     Volume 57  issue 3   
     Volume 57  issue 4   
     Volume 57  issue 5   
     Volume 57  issue 6   
     Volume 57  issue 7   
     Volume 57  issue 8   
     Volume 57  issue 9   
     Volume 57  issue 10   
     Volume 57  issue 11   
     Volume 57  issue 12   
     Volume 57  issue 13   
     Volume 57  issue 14   
     Volume 57  issue 15   
     Volume 57  issue 16   
     Volume 57  issue 17   
     Volume 57  issue 18   
     Volume 57  issue 19   
     Volume 57  issue 20   
     Volume 57  issue 21   
     Volume 57  issue 22   
     Volume 57  issue 23   
     Volume 57  issue 24   
     Volume 57  issue 25   
     Volume 57  issue 26   
     Volume 57  issue 27   
21. Direct demonstration of a misfit strain‐generated electric field in a [111] growth axis zinc‐blende heterostructure
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  7,   1990,   Page  659-661

E. A. Caridi,   T. Y. Chang,   K. W. Goossen,   L. F. Eastman,  

Preview   |   PDF (369KB)

22. Band‐gap narrowing in ordered and disordered semiconductor alloys
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  7,   1990,   Page  662-664

S.‐H. Wei,   Alex Zunger,  

Preview   |   PDF (368KB)

23. Electronic analog of the electro‐optic modulator
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  7,   1990,   Page  665-667

Supriyo Datta,   Biswajit Das,  

Preview   |   PDF (313KB)

24. Surface and interface free‐carrier depletion in GaAs molecular beam epitaxial layers: Demonstration of high interface charge
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  7,   1990,   Page  668-670

D. C. Look,   C. E. Stutz,   K. R. Evans,  

Preview   |   PDF (344KB)

25. Reaction and stability of metal/silicide interfaces: Ti/MoSi2 (001)
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  7,   1990,   Page  671-673

J. P. Sullivan,   Toshiyuki Hirano,   T. Komeda,   H. M. Meyer,   B. M. Trafas,   G. D. Waddill,   J. H. Weaver,  

Preview   |   PDF (404KB)

26. Quasi‐epitaxial growth of organic multiple quantum well structures by organic molecular beam deposition
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  7,   1990,   Page  674-676

F. F. So,   S. R. Forrest,   Y. Q. Shi,   W. H. Steier,  

Preview   |   PDF (372KB)

27. Insitugrowth of superconducting Nd‐Ce‐Cu‐O thin films
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  7,   1990,   Page  677-679

T. Terashima,   Y. Bando,   K. Iijima,   K. Yamamoto,   K. Hirata,   K. Hayashi,   Y. Matsuda,   S. Komiyama,  

Preview   |   PDF (341KB)

28. Flux creep characteristics in high‐temperature superconductors
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  7,   1990,   Page  680-682

E. Zeldov,   N. M. Amer,   G. Koren,   A. Gupta,   M. W. McElfresh,   R. J. Gambino,  

Preview   |   PDF (324KB)

29. Tunneling measurements on superconductor/insulator/superconductor junctions using single‐crystal YBa2Cu3O7−xthin films
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  7,   1990,   Page  683-685

K. Hirata,   K. Yamamoto,   K. Iijima,   J. Takada,   T. Terashima,   Y. Bando,   H. Mazaki,  

Preview   |   PDF (375KB)

30. All highTcedge junctions and SQUIDs
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  7,   1990,   Page  686-688

R. B. Laibowitz,   R. H. Koch,   A. Gupta,   G. Koren,   W. J. Gallagher,   V. Foglietti,   B. Oh,   J. M. Viggiano,  

Preview   |   PDF (388KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第3页 共33条