Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1990
当前卷期:Volume 56  issue 24     [ 查看所有卷期 ]

年代:1990
 
     Volume 56  issue 1   
     Volume 56  issue 2   
     Volume 56  issue 3   
     Volume 56  issue 4   
     Volume 56  issue 5   
     Volume 56  issue 6   
     Volume 56  issue 7   
     Volume 56  issue 8   
     Volume 56  issue 9   
     Volume 56  issue 10   
     Volume 56  issue 11   
     Volume 56  issue 12   
     Volume 56  issue 13   
     Volume 56  issue 14   
     Volume 56  issue 15   
     Volume 56  issue 16   
     Volume 56  issue 17   
     Volume 56  issue 18   
     Volume 56  issue 19   
     Volume 56  issue 20   
     Volume 56  issue 21   
     Volume 56  issue 22   
     Volume 56  issue 23   
     Volume 56  issue 24
     Volume 56  issue 25   
     Volume 56  issue 26   
     Volume 57  issue 1   
     Volume 57  issue 2   
     Volume 57  issue 3   
     Volume 57  issue 4   
     Volume 57  issue 5   
     Volume 57  issue 6   
     Volume 57  issue 7   
     Volume 57  issue 8   
     Volume 57  issue 9   
     Volume 57  issue 10   
     Volume 57  issue 11   
     Volume 57  issue 12   
     Volume 57  issue 13   
     Volume 57  issue 14   
     Volume 57  issue 15   
     Volume 57  issue 16   
     Volume 57  issue 17   
     Volume 57  issue 18   
     Volume 57  issue 19   
     Volume 57  issue 20   
     Volume 57  issue 21   
     Volume 57  issue 22   
     Volume 57  issue 23   
     Volume 57  issue 24   
     Volume 57  issue 25   
     Volume 57  issue 26   
     Volume 57  issue 27   
21. Determination of &Ggr; electron and light hole effective masses in AlxGa1−xAs on the basis of energy gaps, band‐gap offsets, and energy levels in AlxGa1−xAs/GaAs quantum wells
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  24,   1990,   Page  2425-2427

Lˇ. Hrivna´k,  

Preview   |   PDF (252KB)

22. Room‐temperature InAsxSbyP1−x−ylight‐emitting diodes for CO2detection at 4.2 &mgr;m
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  24,   1990,   Page  2428-2429

A. Krier,  

Preview   |   PDF (170KB)

23. Epitaxial growth of extended solubility CdxPb1−xTe alloys on BaF2by rf magnetron sputtering
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  24,   1990,   Page  2430-2432

J. G. Cook,   S. R. Das,   D. J. Lockwood,   J. P. McCaffrey,   P. Y. Timbrell,  

Preview   |   PDF (422KB)

24. Refractive switch for two‐dimensional electrons
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  24,   1990,   Page  2433-2435

J. Spector,   H. L. Stormer,   K. W. Baldwin,   L. N. Pfeiffer,   K. W. West,  

Preview   |   PDF (310KB)

25. Stability of AlAs in AlxGa1−xAs‐AlAs‐GaAs quantum well heterostructures
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  24,   1990,   Page  2436-2438

J. M. Dallesasse,   P. Gavrilovic,   N. Holonyak,   R. W. Kaliski,   D. W. Nam,   E. J. Vesely,   R. D. Burnham,  

Preview   |   PDF (365KB)

26. Epitaxial tendencies of ReSi2on (001) silicon
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  24,   1990,   Page  2439-2441

John E. Mahan,   Kent M. Geib,   Gary Y. Robinson,   Robert G. Long,   Yan Xinghua,   Gang Bai,   Marc‐A. Nicolet,   Menachem Nathan,  

Preview   |   PDF (397KB)

27. Low surface recombination velocity and contact resistance usingp+/pcarbon‐doped GaAs structures
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  24,   1990,   Page  2442-2444

T. J. de Lyon,   J. A. Kash,   S. Tiwari,   J. M. Woodall,   D. Yan,   F. H. Pollak,  

Preview   |   PDF (386KB)

28. Enhanced strain relaxation in Si/GexSi1−x/Si heterostructures via point‐defect concentrations introduced by ion implantation
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  24,   1990,   Page  2445-2447

R. Hull,   J. C. Bean,   J. M. Bonar,   G. S. Higashi,   K. T. Short,   H. Temkin,   A. E. White,  

Preview   |   PDF (354KB)

29. Deposition‐induced defect profiles in amorphous hydrogenated silicon
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  24,   1990,   Page  2448-2450

N. Hata,   S. Wagner,   P. Roca i Cabarrocas,   M. Favre,  

Preview   |   PDF (327KB)

30. Effect of sputtering current on the growth of Y‐Ba‐Cu‐O films
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  24,   1990,   Page  2451-2453

R. J. Lin,  

Preview   |   PDF (264KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第3页 共37条