Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1987
当前卷期:Volume 50  issue 20     [ 查看所有卷期 ]

年代:1987
 
     Volume 50  issue 1   
     Volume 50  issue 2   
     Volume 50  issue 3   
     Volume 50  issue 4   
     Volume 50  issue 5   
     Volume 50  issue 6   
     Volume 50  issue 7   
     Volume 50  issue 8   
     Volume 50  issue 9   
     Volume 50  issue 10   
     Volume 50  issue 11   
     Volume 50  issue 12   
     Volume 50  issue 13   
     Volume 50  issue 14   
     Volume 50  issue 15   
     Volume 50  issue 16   
     Volume 50  issue 17   
     Volume 50  issue 18   
     Volume 50  issue 19   
     Volume 50  issue 20
     Volume 50  issue 21   
     Volume 50  issue 22   
     Volume 50  issue 23   
     Volume 50  issue 24   
     Volume 50  issue 25   
     Volume 50  issue 26   
     Volume 51  issue 1   
     Volume 51  issue 2   
     Volume 51  issue 3   
     Volume 51  issue 4   
     Volume 51  issue 5   
     Volume 51  issue 6   
     Volume 51  issue 7   
     Volume 51  issue 8   
     Volume 51  issue 9   
     Volume 51  issue 10   
     Volume 51  issue 11   
     Volume 51  issue 12   
     Volume 51  issue 13   
     Volume 51  issue 14   
     Volume 51  issue 15   
     Volume 51  issue 16   
     Volume 51  issue 17   
     Volume 51  issue 18   
     Volume 51  issue 19   
     Volume 51  issue 20   
     Volume 51  issue 21   
     Volume 51  issue 22   
     Volume 51  issue 23   
     Volume 51  issue 24   
     Volume 51  issue 25   
     Volume 51  issue 26   
21. Transmission electron microscope study of the formation of Ni2Si and NiSi on amorphous silicon
  Applied Physics Letters,   Volume  50,   Issue  20,   1987,   Page  1453-1454

M. O. Aboelfotoh,   H. M. Tawancy,   F. M. d’Heurle,  

Preview   |   PDF (281KB)

22. Magnetic imaging by ‘‘force microscopy’’ with 1000 A˚ resolution
  Applied Physics Letters,   Volume  50,   Issue  20,   1987,   Page  1455-1457

Y. Martin,   H. K. Wickramasinghe,  

Preview   |   PDF (334KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第3页 共22条