Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1995
当前卷期:Volume 67  issue 22     [ 查看所有卷期 ]

年代:1995
 
     Volume 66  issue 1   
     Volume 66  issue 2   
     Volume 66  issue 3   
     Volume 66  issue 4   
     Volume 66  issue 5   
     Volume 66  issue 6   
     Volume 66  issue 7   
     Volume 66  issue 8   
     Volume 66  issue 9   
     Volume 66  issue 10   
     Volume 66  issue 11   
     Volume 66  issue 12   
     Volume 66  issue 13   
     Volume 66  issue 14   
     Volume 66  issue 15   
     Volume 66  issue 16   
     Volume 66  issue 17   
     Volume 66  issue 18   
     Volume 66  issue 19   
     Volume 66  issue 20   
     Volume 66  issue 21   
     Volume 66  issue 22   
     Volume 66  issue 23   
     Volume 66  issue 24   
     Volume 66  issue 25   
     Volume 66  issue 26   
     Volume 67  issue 1   
     Volume 67  issue 2   
     Volume 67  issue 3   
     Volume 67  issue 4   
     Volume 67  issue 5   
     Volume 67  issue 6   
     Volume 67  issue 7   
     Volume 67  issue 8   
     Volume 67  issue 9   
     Volume 67  issue 10   
     Volume 67  issue 11   
     Volume 67  issue 12   
     Volume 67  issue 13   
     Volume 67  issue 14   
     Volume 67  issue 15   
     Volume 67  issue 16   
     Volume 67  issue 17   
     Volume 67  issue 18   
     Volume 67  issue 19   
     Volume 67  issue 20   
     Volume 67  issue 21   
     Volume 67  issue 22
     Volume 67  issue 23   
     Volume 67  issue 24   
     Volume 67  issue 25   
     Volume 67  issue 26   
21. Thickness profiles of SiO2films deposited from tetraethoxysilane/O3precursors in ultra‐high‐aspect‐ratio capillaries
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  22,   1995,   Page  3286-3288

R. J. Soave,   S. Ganguli,   W. N. Gill,   Y. Shacham‐Diamand,   J. W. Mayer,  

Preview   |   PDF (143KB)

22. Reactive ion beam etching of aluminum indium antimonide, gallium indium antimonide heterostructures in electron cyclotron resonance methane/hydrogen/nitrogen/silicon tetrachloride discharges at room temperature
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  22,   1995,   Page  3289-3291

J. R. Sendra,   J. Anguita,   J. J. Pe´rez‐Camacho,   F. Briones,  

Preview   |   PDF (209KB)

23. Delayed photocurrent affected by &Ggr;‐Xresonance in GaAs/AlAs type‐I short‐period superlattices
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  22,   1995,   Page  3292-3294

H. Mimura,   N. Ohtani,   M. Hosoda,   K. Tominaga,   T. Watanabe,   G. Tanaka,   K. Fujiwara,  

Preview   |   PDF (81KB)

24. Acceptor‐bound exciton recombination dynamics inp‐type GaN
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  22,   1995,   Page  3295-3297

M. Smith,   G. D. Chen,   J. Y. Lin,   H. X. Jiang,   M. Asif Khan,   C. J. Sun,  

Preview   |   PDF (63KB)

25. Dependence of the density and type of stacking faults on the surface treatment of the substrate and growth mode in ZnSxSe1−x/ZnSe buffer layer/GaAs heterostructures
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  22,   1995,   Page  3298-3300

L. H. Kuo,   L. Salamanca‐Riba,   B. J. Wu,   G. Hofler,   J. M. DePuydt,   H. Cheng,  

Preview   |   PDF (272KB)

26. Thermal expansion coefficient of 3C–SiC
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  22,   1995,   Page  3301-3303

D. N. Talwar,   Joseph C. Sherbondy,  

Preview   |   PDF (96KB)

27. Impact ionization in GaAs: Distribution of final electron states determined from hydrostatic pressure measurements
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  22,   1995,   Page  3304-3306

J. Allam,   A. R. Adams,   M. A. Pate,   J. S. Roberts,  

Preview   |   PDF (96KB)

28. Modified donor–acceptor pair luminescence in heavily nitrogen‐doped zinc selenide
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  22,   1995,   Page  3307-3309

C. Kothandaraman,   G. F. Neumark,   R. M. Park,  

Preview   |   PDF (62KB)

29. Theoretical analysis of enhanced electroabsorption related to transition from the second valence subband in wide lattice‐matched quantum wells
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  22,   1995,   Page  3310-3312

Takayuki Yamanaka,   Koichi Wakita,   Kiyoyuki Yokoyama,  

Preview   |   PDF (75KB)

30. Modeling and design of InAs/AlSb‐resonant tunneling diodes
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  22,   1995,   Page  3313-3315

A. Sigurdardottir,   V. Krozer,   H. L. Hartnagel,  

Preview   |   PDF (74KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第3页 共44条