Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1990
当前卷期:Volume 56  issue 21     [ 查看所有卷期 ]

年代:1990
 
     Volume 56  issue 1   
     Volume 56  issue 2   
     Volume 56  issue 3   
     Volume 56  issue 4   
     Volume 56  issue 5   
     Volume 56  issue 6   
     Volume 56  issue 7   
     Volume 56  issue 8   
     Volume 56  issue 9   
     Volume 56  issue 10   
     Volume 56  issue 11   
     Volume 56  issue 12   
     Volume 56  issue 13   
     Volume 56  issue 14   
     Volume 56  issue 15   
     Volume 56  issue 16   
     Volume 56  issue 17   
     Volume 56  issue 18   
     Volume 56  issue 19   
     Volume 56  issue 20   
     Volume 56  issue 21
     Volume 56  issue 22   
     Volume 56  issue 23   
     Volume 56  issue 24   
     Volume 56  issue 25   
     Volume 56  issue 26   
     Volume 57  issue 1   
     Volume 57  issue 2   
     Volume 57  issue 3   
     Volume 57  issue 4   
     Volume 57  issue 5   
     Volume 57  issue 6   
     Volume 57  issue 7   
     Volume 57  issue 8   
     Volume 57  issue 9   
     Volume 57  issue 10   
     Volume 57  issue 11   
     Volume 57  issue 12   
     Volume 57  issue 13   
     Volume 57  issue 14   
     Volume 57  issue 15   
     Volume 57  issue 16   
     Volume 57  issue 17   
     Volume 57  issue 18   
     Volume 57  issue 19   
     Volume 57  issue 20   
     Volume 57  issue 21   
     Volume 57  issue 22   
     Volume 57  issue 23   
     Volume 57  issue 24   
     Volume 57  issue 25   
     Volume 57  issue 26   
     Volume 57  issue 27   
21. Ion beam induced epitaxial crystallization of NiSi2
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  21,   1990,   Page  2117-2119

M. C. Ridgway,   R. G. Elliman,   J. S. Williams,  

Preview   |   PDF (335KB)

22. Dielectric breakdown in thin Si oxynitride films produced by rapid thermal processing
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  21,   1990,   Page  2120-2122

N. Novkovski,   M. Dutoit,   J. Solo de Zaldivar,  

Preview   |   PDF (319KB)

23. Saturation of phase coherence length in GaAs/AlGaAs on‐facet quantum wires
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  21,   1990,   Page  2123-2125

Yoshino K. Fukai,   Syoji Yamada,   Hayato Nakano,  

Preview   |   PDF (386KB)

24. Epitaxial films of semiconducting FeSi2on (001) silicon
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  21,   1990,   Page  2126-2128

John E. Mahan,   Kent M. Geib,   G. Y. Robinson,   Robert G. Long,   Yan Xinghua,   Gang Bai,   Marc‐A. Nicolet,   Menachem Nathan,  

Preview   |   PDF (439KB)

25. Stable and shallow PdIn ohmic contacts ton‐GaAs
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  21,   1990,   Page  2129-2131

L. C. Wang,   X. Z. Wang,   S. S. Lau,   T. Sands,   W. K. Chan,   T. F. Kuech,  

Preview   |   PDF (441KB)

26. InGaAs shallow junction fabrication using Langmuir–Blodgett film diffusion source
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  21,   1990,   Page  2132-2134

D. M. Shah,   W. K. Chan,   R. Bhat,   H. M. Cox,   N. E. Schlotter,   C. C. Chang,  

Preview   |   PDF (387KB)

27. Formation of superconducting (Tl,Bi)Sr2CaCu2Oythin films by rf sputtering and thallium diffusion
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  21,   1990,   Page  2135-2137

R. S. Liu,   P. P. Edwards,   P. D. Hunneyball,   M. J. Bennett,   D. Jedamzik,   M. R. Harrison,   R. J. Horley,  

Preview   |   PDF (402KB)

28. Microstructure of epitaxial YBa2Cu3O7−xthin films
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  21,   1990,   Page  2138-2140

C. W. Nieh,   L. Anthony,   J. Y. Josefowicz,   F. G. Krajenbrink,  

Preview   |   PDF (447KB)

29. Flexible superconducting whiskers of the Li‐doped Bi‐Sr‐Ca‐Cu oxide
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  21,   1990,   Page  2141-2143

Ichiro Matsubara,   Hideo Tanigawa,   Toru Ogura,   Hiroshi Yamashita,   Makoto Kinoshita,   Tomoji Kawai,  

Preview   |   PDF (280KB)

30. Particulates reduction in laser‐ablated YBa2Cu3O7−&dgr;thin films by laser‐induced plume heating
  Applied Physics Letters,   Volume  56,   Issue  21,   1990,   Page  2144-2146

G. Koren,   R. J. Baseman,   A. Gupta,   M. I. Lutwyche,   R. B. Laibowitz,  

Preview   |   PDF (345KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第3页 共33条