Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1995
当前卷期:Volume 67  issue 1     [ 查看所有卷期 ]

年代:1995
 
     Volume 66  issue 1   
     Volume 66  issue 2   
     Volume 66  issue 3   
     Volume 66  issue 4   
     Volume 66  issue 5   
     Volume 66  issue 6   
     Volume 66  issue 7   
     Volume 66  issue 8   
     Volume 66  issue 9   
     Volume 66  issue 10   
     Volume 66  issue 11   
     Volume 66  issue 12   
     Volume 66  issue 13   
     Volume 66  issue 14   
     Volume 66  issue 15   
     Volume 66  issue 16   
     Volume 66  issue 17   
     Volume 66  issue 18   
     Volume 66  issue 19   
     Volume 66  issue 20   
     Volume 66  issue 21   
     Volume 66  issue 22   
     Volume 66  issue 23   
     Volume 66  issue 24   
     Volume 66  issue 25   
     Volume 66  issue 26   
     Volume 67  issue 1
     Volume 67  issue 2   
     Volume 67  issue 3   
     Volume 67  issue 4   
     Volume 67  issue 5   
     Volume 67  issue 6   
     Volume 67  issue 7   
     Volume 67  issue 8   
     Volume 67  issue 9   
     Volume 67  issue 10   
     Volume 67  issue 11   
     Volume 67  issue 12   
     Volume 67  issue 13   
     Volume 67  issue 14   
     Volume 67  issue 15   
     Volume 67  issue 16   
     Volume 67  issue 17   
     Volume 67  issue 18   
     Volume 67  issue 19   
     Volume 67  issue 20   
     Volume 67  issue 21   
     Volume 67  issue 22   
     Volume 67  issue 23   
     Volume 67  issue 24   
     Volume 67  issue 25   
     Volume 67  issue 26   
31. Three‐photon photoemission from GaAs–O–Cs negative electron affinity surfaces induced by 2.06 &mgr;m nanosecond laser pulses
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  1,   1995,   Page  91-93

Liming Wang,   Zhao Cheng,   Qi Ping,   Xun Hou,  

Preview   |   PDF (95KB)

32. Growth of device quality GaN at 550 °C by atomic layer epitaxy
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  1,   1995,   Page  94-96

N. H. Karam,   T. Parodos,   P. Colter,   D. McNulty,   W. Rowland,   J. Schetzina,   N. El‐Masry,   Salah M. Bedair,  

Preview   |   PDF (96KB)

33. Ordering phenomena in InAs strained layer morphological transformation on GaAs (100) surface
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  1,   1995,   Page  97-99

G. E. Cirlin,   G. M. Guryanov,   A. O. Golubok,   S. Ya. Tipissev,   N. N. Ledentsov,   P. S. Kop’ev,   M. Grundmann,   D. Bimberg,  

Preview   |   PDF (386KB)

34. Thermoelectric figure of merit of quantum wire superlattices
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  1,   1995,   Page  100-102

D. A. Broido,   T. L. Reinecke,  

Preview   |   PDF (91KB)

35. Temperature dependence of the photoluminescence of Zn1−xCdxSe/ZnSe strained‐layer quantum wells
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  1,   1995,   Page  103-105

E. Tournie´,   C. Morhain,   M. Leroux,   C. Ongaretto,   J. P. Faurie,  

Preview   |   PDF (79KB)

36. InP/InGaAs photodetector based on a high electron mobility transistor layer structure: Its response at 1.3 &mgr;m wavelength
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  1,   1995,   Page  106-108

M. Horstmann,   M. Marso,   A. Fox,   F. Ru¨ders,   M. Hollfelder,   H. Hardtdegen,   P. Kordos,   H. Lu¨th,  

Preview   |   PDF (64KB)

37. Ballistic transport in one‐dimensional constrictions formed in deep two‐dimensional electron gases
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  1,   1995,   Page  109-111

K. J. Thomas,   M. Y. Simmons,   J. T. Nicholls,   D. R. Mace,   M. Pepper,   D. A. Ritchie,  

Preview   |   PDF (158KB)

38. Electrical properties and microstructures of Au/Pt/Ti/Ni ohmic contacts top‐type ZnTe
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  1,   1995,   Page  112-114

Kazuhiro Mochizuki,   Akihisa Terano,   Masayuki Momose,   Akira Taike,   Masahiko Kawata,   Jun Gotoh,   Shin‐ichi Nakatsuka,  

Preview   |   PDF (304KB)

39. AlGaNpnjunctions
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  1,   1995,   Page  115-117

V. A. Dmitriev,   K. Irvine,   C. H. Carter,   A. S. Zubrilov,   D. V. Tsvetkov,  

Preview   |   PDF (64KB)

40. Mapping of subsurface inhomogeneities in semiconductors using differential reflectance microscopy
  Applied Physics Letters,   Volume  67,   Issue  1,   1995,   Page  118-120

J. Tann,   M. Gal,  

Preview   |   PDF (419KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第4页 共49条