Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1991
当前卷期:Volume 59  issue 17     [ 查看所有卷期 ]

年代:1991
 
     Volume 58  issue 1   
     Volume 58  issue 2   
     Volume 58  issue 3   
     Volume 58  issue 4   
     Volume 58  issue 5   
     Volume 58  issue 6   
     Volume 58  issue 7   
     Volume 58  issue 8   
     Volume 58  issue 9   
     Volume 58  issue 10   
     Volume 58  issue 11   
     Volume 58  issue 12   
     Volume 58  issue 13   
     Volume 58  issue 14   
     Volume 58  issue 15   
     Volume 58  issue 16   
     Volume 58  issue 17   
     Volume 58  issue 18   
     Volume 58  issue 19   
     Volume 58  issue 20   
     Volume 58  issue 21   
     Volume 58  issue 22   
     Volume 58  issue 23   
     Volume 58  issue 24   
     Volume 58  issue 25   
     Volume 59  issue 1   
     Volume 59  issue 2   
     Volume 59  issue 3   
     Volume 59  issue 4   
     Volume 59  issue 5   
     Volume 59  issue 6   
     Volume 59  issue 7   
     Volume 59  issue 8   
     Volume 59  issue 9   
     Volume 59  issue 10   
     Volume 59  issue 11   
     Volume 59  issue 12   
     Volume 59  issue 13   
     Volume 59  issue 14   
     Volume 59  issue 15   
     Volume 59  issue 16   
     Volume 59  issue 17
     Volume 59  issue 18   
     Volume 59  issue 19   
     Volume 59  issue 20   
     Volume 59  issue 21   
     Volume 59  issue 22   
     Volume 59  issue 23   
     Volume 59  issue 24   
     Volume 59  issue 25   
     Volume 59  issue 26   
     Volume 59  issue 27   
31. Interface morphology in molecular beam epitaxy grown In0.5Ga0.5As/GaAs strained heterostructures
  Applied Physics Letters,   Volume  59,   Issue  17,   1991,   Page  2156-2158

S. M. Wang,   T. G. Andersson,   M. J. Ekenstedt,  

Preview   |   PDF (403KB)

32. Correlations between stress‐induced positive charges and time‐dependent dielectric breakdown in ultrathin silicon oxide films
  Applied Physics Letters,   Volume  59,   Issue  17,   1991,   Page  2159-2161

Hiroshi Yamada,   Takahiro Makino,  

Preview   |   PDF (328KB)

33. Effect of collector‐base valence‐band discontinuity on Kirk effect in double‐heterojunction bipolar transistors
  Applied Physics Letters,   Volume  59,   Issue  17,   1991,   Page  2162-2164

B. Mazhari,   H. Morkoc¸,  

Preview   |   PDF (353KB)

34. Exchange effect in coupled two‐dimensional electron gas systems
  Applied Physics Letters,   Volume  59,   Issue  17,   1991,   Page  2165-2167

P. Paul Ruden,   Zhiqiang Wu,  

Preview   |   PDF (375KB)

35. Direct probing of electron movement in superlattices by subpicosecond luminescence
  Applied Physics Letters,   Volume  59,   Issue  17,   1991,   Page  2168-2170

B. Deveaud,   F. Cle´rot,   A. Chomette,   B. Lambert,   P. Auvray,   M. Gauneau,   A. Regreny,  

Preview   |   PDF (417KB)

36. Local electrical dissipation imaged by scanning force microscopy
  Applied Physics Letters,   Volume  59,   Issue  17,   1991,   Page  2171-2173

Winfried Denk,   Dieter W. Pohl,  

Preview   |   PDF (446KB)

37. Epitaxy of LiF on Ge(100)
  Applied Physics Letters,   Volume  59,   Issue  17,   1991,   Page  2174-2176

D. A. Lapiano‐Smith,   E. A. Eklund,   F. J. Himpsel,   L. J. Terminello,  

Preview   |   PDF (370KB)

38. Extension of the bi‐epitaxial Josephson junction process to various substrates
  Applied Physics Letters,   Volume  59,   Issue  17,   1991,   Page  2177-2179

K. Char,   M. S. Colclough,   L. P. Lee,   G. Zaharchuk,  

Preview   |   PDF (386KB)

39. Island growth and surface topography of epitaxial Y‐Ba‐Cu‐O thin films on MgO
  Applied Physics Letters,   Volume  59,   Issue  17,   1991,   Page  2180-2182

H. U. Krebs,   Ch. Krauns,   Xiaoguang Yang,   Ulrich Geyer,  

Preview   |   PDF (295KB)

40. Evidence for pair‐breaking in (R1−xPrx)Ba2Cu3O7−y(R=Er, Y, Dy, Gd, Eu) systems
  Applied Physics Letters,   Volume  59,   Issue  17,   1991,   Page  2183-2185

Yunhui Xu,   Weiyan Guan,  

Preview   |   PDF (379KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第4页 共43条